导读:本文包含了透过率曲线论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:Fabry-Perot标准具,激光雷达,谱估计,参数估计
透过率曲线论文文献综述
蒋立辉,章典,陈星,熊兴隆[1]（2016）在《基于谱估计的Fabry-Perot标准具透过率曲线参数估计方法》一文中研究指出直接探测多普勒测风激光雷达系统大多采用基于Fabry-Perot(F-P)标准具的条纹技术和边缘技术测量多普勒频移。但激光器频率漂移会使得透过率曲线的估计出现一定误差,为了抑制其影响,提出了一种基于谱估计的F-P标准具透过率曲线参数估计方法。首先将标准具全量程扫描结果进行重构得到观测矩阵。之后使用MUSIC算法得到透过率曲线的伪谱。对伪谱进行谱峰搜索后,将得到的谱峰位置进行线性拟合得到自由谱间距。然后将上步的拟合结果代入透过率函数,利用非线性最小二乘法对其他参数进行估计。在仿真分析的基础上,采用真实测量数据进行了实验验证。结果表明所提出的方法在扫描步点间隔达到50、信噪比大于10 d B的情况下,估计差小于1%。该算法扫描时间短,估计误差小,具有实际应用价值。(本文来源于《红外与激光工程》期刊2016年09期）
曹硕,马莹莹,高鹏[2]（2007）在《锥光干涉图、光强透过率曲线对电光调制实验的影响》一文中研究指出基于电光效应的基本原理,讨论了铌酸锂(LiNbO3)晶体横向电光调制实验中利用锥光干涉图暗十字线图样确定起偏器和检偏器偏振方向分别平行于晶体x、y光轴的方法,及光强透过率曲线偏移对测量铌酸锂晶体半波电压的影响.(本文来源于《辽宁大学学报(自然科学版)》期刊2007年04期）
沈伟东,刘旭,朱勇,邹桐,叶辉[3]（2005）在《用透过率测试曲线确定半导体薄膜的光学常数和厚度》一文中研究指出介绍了一种简单而准确地确定薄膜光学常数和厚度的方法 .借助于Forouhi Bloomer物理模型 ,用改进的单纯形法拟合分光光度计透过率测试曲线 ,获得半导体薄膜的光学常数和厚度 .对射频磁控溅射和直流反应溅射制备的玻璃基板上的α Si和ZnO薄膜进行了实验 ,拟合的理论曲线和实验曲线吻合得非常好 .计算得到的结果与文献报道的结果和台阶仪的测量结果一致 ,误差小于 4 % .该方法对无定形或多晶的半导体薄膜都适用 ,也可以用于计算厚度较薄的薄膜 .(本文来源于《半导体学报》期刊2005年02期）
康秀英,徐妙华[4]（2003）在《滤波片透过率曲线测量中棱镜单色仪参数的选取》一文中研究指出从理论上分析了入射、出射狭缝大小对出射光的光谱宽度和透过率曲线的影响,得到了入射、出射狭缝大小的最佳匹配条件,并通过实验验证了这一结论,分析了鼓轮每次转动格数对测得的透过率曲线的影响,给出了鼓轮每次转动的最佳格数值.(本文来源于《大学物理》期刊2003年12期）
朱亚一,冷永章,凌德洪[5]（1989）在《单色仪光谱透过率曲线测量方法的改进》一文中研究指出本文介绍了测量单色仪光谱透过率T(λ)～λ曲线的一种新方法.作为实例,对国产全息光栅单色仪进行了测量,得到的结果可以说明方法的准确和高效.(本文来源于《苏州大学学报(自然科学)》期刊1989年01期）
透过率曲线论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
基于电光效应的基本原理,讨论了铌酸锂(LiNbO3)晶体横向电光调制实验中利用锥光干涉图暗十字线图样确定起偏器和检偏器偏振方向分别平行于晶体x、y光轴的方法,及光强透过率曲线偏移对测量铌酸锂晶体半波电压的影响.
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
透过率曲线论文参考文献
[1].蒋立辉,章典,陈星,熊兴隆.基于谱估计的Fabry-Perot标准具透过率曲线参数估计方法[J].红外与激光工程.2016
[2].曹硕,马莹莹,高鹏.锥光干涉图、光强透过率曲线对电光调制实验的影响[J].辽宁大学学报(自然科学版).2007
[3].沈伟东,刘旭,朱勇,邹桐,叶辉.用透过率测试曲线确定半导体薄膜的光学常数和厚度[J].半导体学报.2005
[4].康秀英,徐妙华.滤波片透过率曲线测量中棱镜单色仪参数的选取[J].大学物理.2003
[5].朱亚一,冷永章,凌德洪.单色仪光谱透过率曲线测量方法的改进[J].苏州大学学报(自然科学).1989
标签：Fabry-Perot标准具; 激光雷达; 谱估计; 参数估计;