导读:本文包含了辐照失效论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:屈曲,效应,激光,剂量,圆柱,原子,超声速。
辐照失效论文文献综述
吴忠烨,张荣,张一鸣,李正刚,杨兵[1]（2019）在《芳纶紫外线辐照老化失效的无损检测评估》一文中研究指出探讨抗荷服和抗浸服(芳纶材料)老化程度的无损检测方法。采用紫外线辐照模拟自然紫外线损伤过程,系统研究了常用的抗荷服和抗浸服在紫外线辐照下的微观形貌、微结构、色度以及断裂强力变化,分析了此类芳纶材料色度特征变化与断裂强力之间的对应关系。结果表明:紫外线辐照会破坏材料纤维微结构,导致其出现老化现象;抗浸服和抗荷服在不同紫外线辐照时间下色度特征值与断裂强力均呈现出明显规律。认为:建立起基于色度检测的材料老化损伤无损检测和评估技术,可以实现此类特种纺织材料剩余寿命的预测。(本文来源于《棉纺织技术》期刊2019年05期）
吴琼瑶,李钦,汪朝敏,李晓潮,刘吉[2]（2019）在《国产CCD质子辐照的失效机理研究》一文中研究指出针对国产XXX型CCD,开展了10MeV质子辐照损伤试验研究。本文介绍了质子辐照试验方法,分析了CCD在不同状态下质子辐照试验的损伤机理,确定了暗信号幅度为其敏感参数,并对暗信号的退化机理进行了分析。(本文来源于《中国检验检测》期刊2019年01期）
[3]（2015）在《原子氧辐照环境下二硫化钼润滑薄膜失效机理研究取得新进展》一文中研究指出低地球轨道距地面200 km~700 km是对地观测卫星、气象卫星、空间站等航天器运行区域。在此区间内大多数空间飞行器运动部件的润滑选用的是固体润滑材料,其中二硫化钼使用最为广泛。在低地球轨道内,大气残余气体中氧分子在紫外光作用下发生光解离,产生的原子态氧能长时间稳定存在,原子氧与轨道内高速飞行的航天器碰撞时的能量为5.3 e V,这种高速碰撞氧化对材料的侵蚀作用非常严重,因此,原(本文来源于《合成润滑材料》期刊2015年04期）
新型[4]（2015）在《原子氧辐照环境下二硫化钼润滑薄膜失效机理研究获进展》一文中研究指出低地球轨道距地面200~700km,是对地观测卫星、气象卫星、空间站等航天器运行区域,在此区间内大多数空间飞行器运动部件选用固体润滑材料,其中二硫化钼(MoS2)使用最为广泛。在低地球轨道内,大气残余气体中氧分子在紫外光作用下发生光致解离,产生原子态氧并长时间在轨稳定存在,原子氧与轨道内高速飞行航天器碰撞时能量为5.3eV,这种高速碰撞氧化对材料侵蚀作用非常严重,因此,原子氧辐照被认为是低地球轨道航天器表面最危险的环境因素。(本文来源于《化工新型材料》期刊2015年09期）
章旭明[5]（2014）在《非挥发半导体存储器辐照失效机理及抗辐照加固研究》一文中研究指出随着我国空间技术的不断进步,对外太空的探索越来越频繁。在外太空中存在大量的空间辐射,这些辐射对运行在其中的卫星等宇航器件有致命的影响,会导致器件的失效,这些器件中集成电路产品对辐射环境更加的敏感。随着人们对空间辐射环境认识的加深,如何提高集成电路的抗辐照能力,也就成了各国的重点研究领域,这些研究中以半导体存储器的辐照失效机理以及相应的抗辐照加固技术为重点,本文系统性的概括了辐射环境以及辐射效应。半导体存储器分为挥发性存储器和非挥发性存储器两类,其中非挥发性半导体存储器在断电的情况下数据不会丢失,常用来存储大容量的数据。非挥发性存储器中以EEPROM和FLASH这两种存储器使用最为广泛,本文的工作主要对FLASH存储器开展研究。非挥发性半导体存储器的辐照失效类型主要有单粒子失效、总剂量失效和剂量率失效等几大类。本文详细分析了各类辐照失效的内在机理,在分析失效机理的基础上,研究了各种抗辐照加固技术,主要有设计加固和工艺加固两大类。在完成辐照失效机理和抗辐照加固技术的研究基础上,本文采用设计加固的方法设计了一款具有抗辐照能力的FLASH器件并进行了辐照试验。通过对FLASH器件辐照试验数据的分析,验证了所采用的抗辐照加固技术可以有效提高器件的抗辐照能力。为进一步提高器件的抗辐照能力,本文提出了综合设计和工艺的抗辐照加固方法,为后续工作开展的另一个起点。(本文来源于《复旦大学》期刊2014-03-20）
白小燕,林东生,王桂珍,李瑞宾,马强[6]（2013）在《样本空间排序法评价瞬时辐照无失效数据研究》一文中研究指出为降低瞬时辐照抽样检验中现行经典非参数法的评价结果的保守性,引入样本空间排序法,从理论和实例两方面计算无失效数据的生存概率置信下限,并与经典非参数法进行对比。结果是,样本空间排序法不仅提高生存概率的置信下限,还增大这些置信限所对应的剂量率范围。该研究结果表明样本空间排序法提高了数据利用率,降低了保守性,可减少试验成本。(本文来源于《强激光与粒子束》期刊2013年10期）
黄亿辉,宋宏伟,黄晨光[7]（2013）在《超声速气流下强激光辐照靶体失效数值模拟》一文中研究指出建立了能够反映激光、流场和结构相互作用的热流固耦合数值计算方法,用于模拟超声速气流(马赫数1.2～4.0)作用下强激光辐照靶体结构的失效行为。分析了不同耦合策略对数值计算结果的影响。研究了激光功率密度及来流马赫数对屈服失效和熔融失效行为的影响。结果表明:激光功率密度对失效辐照时间影响显着;存在一个临界马赫数,使得达到屈服失效和熔融失效的辐照时间最长。通过定量分析激光辐照下不同马赫数的气动生热、散热及能量分配,解释了临界马赫数存在的机理。(本文来源于《强激光与粒子束》期刊2013年09期）
刘海宏[8]（2013）在《轴压圆柱壳局部受激光辐照失效研究》一文中研究指出航空、航天工程结构设计广泛使用了圆柱壳结构。当其局部受到强激光辐照时，辐照位置处材料温度快速升高，出现软化、熔化或气化等一系列物理过程，对圆柱壳上温度分布以及轴压承载力产生很大影响。本文基于实验和数值模拟的方法对轴压光滑薄壁圆柱壳和加筋圆柱壳在局部激光辐照下的破坏问题进行了研究，主要内容如下：（1）通过实验和数值模拟方法对轴压光滑薄壁圆柱壳局部受激光辐照下的失效行为进行研究。使用数值方法对圆柱壳轴压和局部受热失稳过程进行模拟，分析了位移-载荷的变化规律。数值模拟结果与实验测定圆柱壳在激光辐照下温度变化及失效时间进行对比，验证了模拟方法的可靠性。（2）通过数值模拟方法，研究了不同激光光斑半径辐照圆柱壳时温度分布规律以及在热载荷和轴压载荷联合作用下的应力分布规律。通过拟合预加载荷、激光光斑半径、激光功率密度以及激光辐照能量与结构坍塌时间的关系，得到了这些参数对轴压光滑薄壁圆柱壳失效时间影响的经验公式。（3）对激光辐照加筋圆柱壳温度分布以及失效时间进行数值分析。通过与光滑圆柱壳以及不同筋条高度下加筋圆柱壳温度分布对比，分析了筋条尺寸对其温度分布的影响规律，并分析了光斑中心位置改变对壳体最高温度的影响。对轴压加筋圆柱壳局部受激光辐照的失效时间进行研究，分析了轴压载荷、光斑半径、功率密度以及光斑中心位置对失效时间的影响，得到了相应的拟合公式，其对结构抗激光设计具有参考价值。(本文来源于《北京工业大学》期刊2013-06-01）
闫逸华,陈伟,郭红霞,范如玉,邓玉良[9]（2013）在《Flash ROM的X微束辐照试验研究及失效机理分析》一文中研究指出Flash ROM芯片的存储阵列和外围电路均具有较高的辐射易损性,辐射损伤模式多样。为对其辐射敏感电路进行定位和分析,本文采用X射线微束开展局部辐照试验研究。分别研究了存储阵列,译码电路以及电荷泵等不同电路模块所引起的失效表征,利用错误位的逻辑地址映射图,总结错误分布规律,结合相应电路结构对其失效机理进行分析。辐照存储阵列会导致规则分布的0→1翻转错误,而译码电路出错会导致1→0的错误,电荷泵电路退化则会导致器件擦除和写入功能的失效。微束辐照结果可以有效补充全芯片总剂量效应考核的不足,为器件的抗辐射加固提供有益的参考。(本文来源于《核技术》期刊2013年03期）
刘海宏,龙连春[10]（2013）在《轴压薄壁圆柱壳激光辐照局部的失效研究》一文中研究指出当轴压薄壁圆柱壳受到强激光辐照时,激光辐照位置温度会快速升高。铝合金材料在高温情况下会出现软化,融化,气化等一系列物理过程,材料弹性模量、屈服强度等力学性质发生改变,最终导致圆柱壳在轴压荷载作用下发生整体屈曲,坍塌。本文采用热力耦合的方法对轴压薄壁圆柱壳在强激光辐照下的失效行为进行数值模拟,分析了圆柱壳失效过程。(本文来源于《北京力学会第19届学术年会论文集》期刊2013-01-12）
辐照失效论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
针对国产XXX型CCD,开展了10MeV质子辐照损伤试验研究。本文介绍了质子辐照试验方法,分析了CCD在不同状态下质子辐照试验的损伤机理,确定了暗信号幅度为其敏感参数,并对暗信号的退化机理进行了分析。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
辐照失效论文参考文献
[1].吴忠烨,张荣,张一鸣,李正刚,杨兵.芳纶紫外线辐照老化失效的无损检测评估[J].棉纺织技术.2019
[2].吴琼瑶,李钦,汪朝敏,李晓潮,刘吉.国产CCD质子辐照的失效机理研究[J].中国检验检测.2019
[3]..原子氧辐照环境下二硫化钼润滑薄膜失效机理研究取得新进展[J].合成润滑材料.2015
[4].新型.原子氧辐照环境下二硫化钼润滑薄膜失效机理研究获进展[J].化工新型材料.2015
[5].章旭明.非挥发半导体存储器辐照失效机理及抗辐照加固研究[D].复旦大学.2014
[6].白小燕,林东生,王桂珍,李瑞宾,马强.样本空间排序法评价瞬时辐照无失效数据研究[J].强激光与粒子束.2013
[7].黄亿辉,宋宏伟,黄晨光.超声速气流下强激光辐照靶体失效数值模拟[J].强激光与粒子束.2013
[8].刘海宏.轴压圆柱壳局部受激光辐照失效研究[D].北京工业大学.2013
[9].闫逸华,陈伟,郭红霞,范如玉,邓玉良.FlashROM的X微束辐照试验研究及失效机理分析[J].核技术.2013
[10].刘海宏,龙连春.轴压薄壁圆柱壳激光辐照局部的失效研究[C].北京力学会第19届学术年会论文集.2013
论文知识图
