CVD制备Bi2Se3纳米片薄膜及热电性能研究

CVD制备Bi2Se3纳米片薄膜及热电性能研究

论文摘要

采用化学气相沉积法(CVD)在云母基片上制备了由高结晶度的纳米片组成的Bi2Se3薄膜。系统研究了基片不同温区、沉积时间及补偿Se对薄膜结构、形貌及热电性能的影响。研究结果表明,在加热温度为520℃、加热时间为30min条件下制备出了由三角形纳米片组成的Bi2Se3薄膜,纳米片边长为10μm,薄膜厚度为1.25μm。在室温时,Bi2Se3薄膜的电导率为0.9S/cm,seebeck系数为-77.8μV/K。

论文目录

  • 1 实验部分
  •   1.1 仪器与试剂
  •   1.2 实验方法
  • 2 结果与讨论
  •   2.1 不同温度区域下薄膜形貌特征比较
  •   2.2 不同的沉积时间对薄膜形貌的影响
  •   2.3 补偿不同Se的质量薄膜形貌的影响
  •   2.4 Bi2Se3薄膜厚度测量
  •   2.5 能谱图分析
  •   2.6 XRD 分析
  •   2.7 Bi2Se3薄膜的seebeck系数、电导率及功率因子对比分析
  •     2.7.1 Bi2Se3薄膜的seebeck系数对比分析
  •     2.7.2 Bi2Se3薄膜的电导率分析对比
  •     2.7.3 Bi2Se3薄膜的功率因子分析对比
  • 3 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 陈上峰,李爽,王凯,赵国财,仲德晗,孙乃坤

    关键词: 薄膜,热电性能

    来源: 沈阳理工大学学报 2019年02期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑

    专业: 无机化工,材料科学,工业通用技术及设备

    单位: 沈阳理工大学理学院

    基金: 沈阳理工大学国家级大学生创新创业训练计划项目(201710144016),沈阳理工大学校级大学生创新创业训练计划项目(17lx006)

    分类号: TQ135.32;TB383.2

    页码: 89-94

    总页数: 6

    文件大小: 1529K

    下载量: 94

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