波长色散X射线荧光光谱法测定中低品位铝土矿和高硫铝土矿中主次组分

波长色散X射线荧光光谱法测定中低品位铝土矿和高硫铝土矿中主次组分

论文摘要

中低品位铝土矿种类繁多,Al2O3含量较低,而其他组分较为复杂,常富含Fe2O3、CaO、MgO、S等组分,应用熔融制样-X射线荧光光谱法(XRF)测定富含Fe2O3、S的样品在熔融时会腐蚀铂-金坩埚,样品流动性差,而且高温下S挥发严重。实验使用NH4NO3作为氧化剂,采用熔融法制样,建立了波长色散X射线荧光光谱法同时测定中低品位铝土矿和高硫铝土矿中Al2O3、SiO2、Fe2O3、CaO、TiO2、K2O、Na2O、MgO、P2O5、S的分析方法。为了拓宽Fe2O3、S等组分的含量范围,采用国家标准物质之间互相配制和经多次化学分析的样品来绘制校准曲线;通过试验确定样品与熔剂的稀释比为1∶20,加入1.0g NH4NO3作为氧化剂,滴加0.5mL LiBr溶液作脱模剂,在1 050℃下熔样8min,可制得透彻、玻璃化程度高的样片。各组分的检出限在27.7~259μg/g之间,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=12)小于3%。经实际样品分析,各组分测定值与其他方法分析结果相吻合,有效解决了富含Fe2O3、S的中低品位铝土矿和高硫铝土矿的制样问题及S不易被准确测定的难题,可用于测定S质量分数15%以内的铝土矿样品。

论文目录

  • 1 实验部分
  •   1.1 仪器及测量条件
  •   1.2 主要试剂
  •   1.3 标准物质的选择
  •   1.4 标准样品的制备
  •   1.5 基体效应及谱线重叠干扰校正
  • 2 结果与讨论
  •   2.1 稀释比
  •   2.2 氧化剂及用量
  •   2.3 熔样温度
  •   2.4 脱模剂
  •   2.5 方法检出限
  •   2.6 方法精密度
  •   2.7 方法正确度
  • 3 结语
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 陆安军,苏梦晓

    关键词: 波长色散射线荧光光谱法,中低品位铝土矿,高硫铝土矿,熔融制样,主次组分

    来源: 冶金分析 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅰ辑

    专业: 化学,矿业工程

    单位: 广西第四地质队

    分类号: O657.34;TD862.2

    DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010581

    页码: 53-59

    总页数: 7

    文件大小: 167K

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