高精度位移测量系统的硬件在环仿真

高精度位移测量系统的硬件在环仿真

论文摘要

设计了一个基于二维光栅的高精度位置测量系统的硬件在环仿真平台,分析了测量模型在编程过程中产生误差的原因,并使用该仿真平台测试了模型的精度和运算时间。结果表明,当计算频率为20 kHz时,测量模型的编程精度优于0.79 nm,测量机箱引起的误差为8.84×10-7nm。该仿真平台能够有效地检测基于二维光栅的测量模型在编程过程中产生的误差,并测试模型运算时间。

论文目录

  • 1 引 言
  • 2 二维光栅位移测量原理
  • 3 硬件在环仿真平台
  •   3.1 测量机箱
  •   3.2 仿真机箱
  • 4 测量模型
  •   4.1 位移模型
  •   4.2 位置模型
  • 5 仿真过程及结果分析
  •   5.1 模型在环仿真
  •   5.2 硬件在环仿真
  • 6 结 论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 张文涛,杜浩,熊显名,谢仁飚,王献英

    关键词: 测量,精密测量,二维光栅,硬件在环,光刻机

    来源: 中国激光 2019年02期

    年度: 2019

    分类: 基础科学,工程科技Ⅱ辑

    专业: 仪器仪表工业

    单位: 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院,上海微电子装备(集团)股份有限公司

    基金: 国家科技重大专项(2017ZX02101007-003)

    分类号: TH74

    页码: 86-92

    总页数: 7

    文件大小: 3832K

    下载量: 184

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