精密测距仪—μ-base在基线检测中的应用

精密测距仪—μ-base在基线检测中的应用

论文摘要

新型-base精密测距仪是一款高精度基线测距仪,它采用了ADM测距原理,在使用角隅棱镜(CCR1.5",RRR1.5")时,其在160m的范围内的测距精度优于10m。受制于-base的测距范围,文章分别采用了"差分法"和"叠加法"对基线进行了多次重复测量,经分析,该方法测量精度较高,满足基线检测的精度要求,为测距仪进行基线检测提供了新的方法和依据。

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文章来源

类型: 期刊论文

作者: 肖华杰,邓向瑞,李建双

关键词: 测距仪,基线检测

来源: 信息通信 2019年12期

年度: 2019

分类: 信息科技,基础科学

专业: 自然地理学和测绘学

单位: 中国计量科学研究院

分类号: P204

页码: 30-31

总页数: 2

文件大小: 415K

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