晶体谱仪论文_杨新帅

导读:本文包含了晶体谱仪论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译,主要关键词:晶体,等离子体,射线,光谱,双晶,多普勒,布拉格。

晶体谱仪论文文献综述

杨新帅[1](2019)在《基于EAST双晶体弯晶谱仪等离子体温度测量的实验研究》一文中研究指出X射线弯晶谱仪是托卡马克装置等离子体的离子温度、电子温度和旋转速度等参数分布测量的重要手段之一,是国内外主要托卡马克上配备的常规手段之一,也是未来聚变堆规划建设的诊断装置。近年来,弯晶谱仪原先基于单光谱测量导致的参数测量范围较窄的问题日益显着。针对这一挑战,EAST装置在国内外较早的开始了双晶体弯晶谱仪的升级研究,分别测量低温段和高温度等离子体参数,从而满足对更高等离子体温度放电条件下的等离子体参数的测量。本论文首先总结了双晶体谱仪的升级情况。EAST装置切向弯晶谱仪诊断系统上安装了双晶体结构,诊断离子为Ar ⅩⅦ和Ar ⅩⅧ离子,选用晶体为Quartz 110和Quartz 102,获得了完整的高质量的Ar ⅩⅦ和Ar ⅩⅧ谱线;在极向弯晶谱仪诊断系统也安装了双晶体结构,诊断离子为Ar ⅩⅦ离子和Fe XXV离子,选用晶体为Quartz 110和Ge 422,获得了完整的高质量的Ar ⅩⅦ离子和Fe ⅩⅩⅤ谱线。根据获得的双晶体谱线测量的等离子体参数具有很好的一致性,可测量10 keV≥Te≥0.5keV范围内的等离子体温度。由于两块晶体组装的复杂性增加,诊断离子的波长范围增大,在高参数实验过程中可能会将金属杂质引入等离子体中,如Mo,Fe,W和Cu等,使得一些波长在Ar ⅩⅦ和Ar ⅩⅧ离子范围内的杂质离子的谱线也被探测器采集到,并与氩光谱重迭在一起,造成光谱的污染。利用双晶体谱线标定了每一条杂质峰的波长,识别出了位于Ar ⅩⅦ谱线Z线旁的高强度杂质峰,即钨离子及其波长,并根据NIST原子光谱数据库总结了在Ar ⅩⅦ和Ar ⅩⅧ离子波长范围内的所有杂质类型和波长,包括一级衍射的钼离子和二级衍射的铁离子。这些杂质峰的出现对用双晶体弯晶谱仪测量等离子体参数提出挑战,因为杂质谱线造成了光谱的污染,使得离子温度和电子温度的测量结果出现较大偏差且误差增大,本论文研究提供了运用双晶体弯晶谱仪测量等离子体参数新的研究思路。(本文来源于《中国科学技术大学》期刊2019-05-14)

郭璐婷,韦敏习,胡昕,邓克力,陈韬[2](2016)在《基于激光等离子体研究的高性能扫描晶体谱仪(英文)》一文中研究指出在激光等离子体研究中,电磁脉冲干扰对实验结果影响很大,为了减小这一影响,设计一款新的扫描晶体谱仪,整个机身设计成几乎全密闭的良导体。该晶体谱仪通过更换晶体和调整入射角可以获得较宽范围的测量窗口。在X光光谱为2.5~3.5keV范围内的测量试验中,该扫描晶体谱仪的谱分辨能力为13(在2960eV),时间分辨率为10ps。其谱分辨和时间分辨可以满足对激光等离子体的研究。(本文来源于《强激光与粒子束》期刊2016年02期)

陈俊,吕波,王福地,潘夏云,李颖颖[3](2015)在《托卡马克弯晶谱仪双晶体结构应用的初步研究》一文中研究指出X射线弯晶谱仪作为托卡马克装置等离子体温度和旋转速度等参数诊断测量的重要手段之一,通常利用单晶体衍射分光来测量某种特定杂质的特征谱,这也限制了弯晶谱仪所能测量的等离子体温度范围。为解决更高温度等离子体测量问题,有效提高目前弯晶谱仪诊断系统温度测量范围,用双晶体代替原有单晶体,通过选择合适的晶体和Bragg衍射角组合,利用同一个探测器同时测量类氢和类氦的氩离子光谱,实现更高更宽温度范围测量。本文就东方超环(Experimental Advanced Superconducting Tokamak,EAST)弯晶谱仪双晶体应用方面的设计和技术实现进行了阐述,并首次在EAST装置上成功实现了氩离子类氦和类氢谱线的测量,利用类氦线和类氢线拟合得到的氩离子温度非常接近,验证了双晶体结构的可行性。(本文来源于《核技术》期刊2015年11期)

张耀锋,郭彬,黄建微,李耀刚,王晓君[4](2015)在《NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究》一文中研究指出为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例,进行了X射线的能谱重建。获得结果与原始能谱的相关性约为0.98。(本文来源于《核电子学与探测技术》期刊2015年04期)

闫文超,苏鲁宁,林晓宣,杜飞,袁大伟[5](2014)在《高反射效率高定向性的热解石墨晶体X射线谱仪》一文中研究指出基于高定向热解石墨晶体(highly oriented pyrolitic graphite,HOPG)研制了一种新型反射式X射线谱仪.该谱仪具有高反射效率、较高能谱分辨率及相对较宽的能谱测量范围.根据计算,在相同的入射条件下,该谱仪的效率比一般X射线弯晶谱仪高3个量级;谱仪能谱分辨率理论值最高达350;理论探测范围是6.891keV至9.193 keV.我们将该谱仪应用在高功率密度激光与固体靶相互作用的实验中,发现在普通弯晶谱仪无法采到信号的实验条件下,HOPG谱仪依然采集到清晰的Cu K谱线.分析发现在8.048 keV(Cu的Kα光子能量)附近的能谱分辨能力最高达到40 eV,分辨率大于200.(本文来源于《物理学报》期刊2014年17期)

赵阳,青波,熊刚,胡智民,韦敏习[6](2014)在《平面晶体谱仪弯曲谱线波长定标方法》一文中研究指出为了满足激光等离子体X射线光谱测量的需要,提出了一种利用平面晶体谱仪记录得到的弯曲谱线来进行波长标定的新方法。传统的参考谱线法需要已知两条以上谱线的确切波长才能进行波长标定,而利用弯曲谱线可以在不知道任何谱线信息的情况下进行波长标定。通过对实验中所获得的铝等离子体Heα自发射谱线弯曲图像的分析,得到在目前所使用的谱仪条件下,该方法的波长定标精度可以达到2×10-4 nm。(本文来源于《强激光与粒子束》期刊2014年01期)

钱凤,曹磊峰,肖沙里,周维民,赵宗清[7](2013)在《硬X射线透射晶体谱仪的设计性能参数》一文中研究指出激光等离子体相互作用高分辨硬X射线光谱的测量通常采用柱面透射弯晶谱仪实现。利用几何光学模型对柱面透射弯晶谱仪的关键技术参数进行了理论计算和数值模拟,给出了谱仪弯晶曲率半径、光源到晶体的距离、光源尺寸和探测器的位置等因素对谱仪测谱范围和分辨能力的影响情况,分析了光谱分辨水平随能点的变化。分析结果表明:晶体曲率半径对测谱范围和谱分辨能力影响大,在光源尺寸较小时,随着探测器与罗兰圆距离的增加,谱线之间距离增加的速度大于光谱线宽增加的速度,使得分辨能力增加。(本文来源于《强激光与粒子束》期刊2013年09期)

蔡红春,黄显宾,段书超,李晶,周少彤[8](2013)在《时间分辨晶体谱仪在Z箍缩等离子体中的应用》一文中研究指出在装置"阳"加速器上,使用椭圆弯晶谱仪对Al丝阵Z箍缩实验的X射线辐射特性进行了研究。在谱仪结构中,使用椭圆面的晶体作为分光元件,采用PIN阵列作为记录元件实现时间分辨测量,同时用成像板记录时间积分结果。在Al丝阵Z箍缩实验中,获得了时间分辨的Al等离子体K壳层辐射谱,用基于"碰撞-辐射"模型的K壳层线辐射谱分析程序对Al丝阵Z箍缩的实验数据进行了分析,获得了Al丝阵等离子体的时间分辨的电子温度和时空平均的电子数密度参数。(本文来源于《强激光与粒子束》期刊2013年09期)

赵阳,韦敏习,朱托,熊刚,胡智民[9](2011)在《基于平面晶体谱仪的X射线光谱定量测量技术》一文中研究指出X射线光谱是研究等离子体状态以及原子物理过程的主要手段,目前大多数实验只能获得半定量的实验光谱数据,缺乏定量数据以对这些物理问题进行深入理解和研究。本文基于平面晶体谱仪,发展了X射线光谱定量测量技术。采用PET平面晶体配X光CCD组成高灵敏度与信号稳定可靠的晶体谱仪,利用北京同步辐射4B7中能束线对晶体的积分衍射效率进(本文来源于《第十六届全国原子与分子物理学术会议论文摘要集》期刊2011-08-09)

梁冰[10](2011)在《五通道柱面晶体谱仪关键技术研究》一文中研究指出受控核聚变是当代世界科学技术重大课题,激光惯性约束核聚变是当前核聚变研究的主要方向之一。惯性约束核聚变(Inertial Confined Fusion ICF)的基本原理是:使用强大的脉冲激光束照射氘、氚燃料的微型靶丸上,在瞬间产生极高的高温和极大的压力,被高度压缩的稠密等离子体在扩散之前,向外喷射而产生向内聚心的反冲力,将靶丸物质压缩至高密度和热核燃烧所需的高温,并维持一定的约束时间,完成全部核聚变反应,释放出大量的聚变能。在惯性约束核聚变实验研究中,激光打靶会产生高温等离子体。这些高温等离子体所发射的X射线谱中包含了丰富的信息,如电子的温度、密度和离化度等信息。要研究高温等离子体的内部状态及变化过程,就必须通过一定的实验手段对离子体中电子温度、密度、电离分布等状态参数进行实验测量研究。而为了精确地诊断高温高密度等离子体的物理状态,时间分辨的等离子体X射线谱学是研究热稠密等离子体的一种强有力的技术。本文阐述了利用X射线谱进行激光等离子体诊断的五通道柱面晶体谱仪的重大意义。主要利用X射线受晶体衍射的基本理论,对整个五通道柱面晶体谱仪的结构设计进行研究。本次设计研制的五通道柱面晶体谱仪是一个广(宽)谱、常规的X光能谱诊断设备,该型谱仪在辐射驱动内爆、辐射不透明度、X光能源、黑腔物理和辐射输运实验中具有广泛的用途,可用于诊断如Al、Mg、S、Cl、Ar、K、Ti、Cr、Fe、Mo、Ag和An等元素的各种离化态离子发射的时间积分的X光线谱,这些线谱可为激光聚变等离子体的研究提供重要的信息。谱仪经过标定后,可测量能谱分辨的X射线辐射流,对测量获得的光谱进行分析可获得等离子体状态方面的数据,如离化度、密度和离子各类等。在本论文中我们首先对用于在激光聚变实验室等离子体诊断的凸形柱面弯曲晶体谱仪做了功能结构分析,并介绍了五通道柱面晶体谱仪的光学系统的基本组成和特性参数。接下来,本文根据经典光仪器的基本理论,进行了光学主要设计参数的来源计算。并利用经典机器人运动理论学,对谱仪的送靶机构和调节机构两大重要机械功能组成部分进行了运动学分析。同时,对于需要保证送靶精度的送靶机构,送靶机构的运动控制也是极为重要的一环,文中对于送靶机构的控制部分也做了重点介绍。最后,对于谱仪设计的各个机械功能部分,都做了介绍。并对于某些重要的,其精度会影响到谱仪整体设计精度的零件,进行了有限元分析。以使这些关键零件,在设计时达到最优化设计。(本文来源于《重庆大学》期刊2011-05-01)

晶体谱仪论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

在激光等离子体研究中,电磁脉冲干扰对实验结果影响很大,为了减小这一影响,设计一款新的扫描晶体谱仪,整个机身设计成几乎全密闭的良导体。该晶体谱仪通过更换晶体和调整入射角可以获得较宽范围的测量窗口。在X光光谱为2.5~3.5keV范围内的测量试验中,该扫描晶体谱仪的谱分辨能力为13(在2960eV),时间分辨率为10ps。其谱分辨和时间分辨可以满足对激光等离子体的研究。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

晶体谱仪论文参考文献

[1].杨新帅.基于EAST双晶体弯晶谱仪等离子体温度测量的实验研究[D].中国科学技术大学.2019

[2].郭璐婷,韦敏习,胡昕,邓克力,陈韬.基于激光等离子体研究的高性能扫描晶体谱仪(英文)[J].强激光与粒子束.2016

[3].陈俊,吕波,王福地,潘夏云,李颖颖.托卡马克弯晶谱仪双晶体结构应用的初步研究[J].核技术.2015

[4].张耀锋,郭彬,黄建微,李耀刚,王晓君.NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究[J].核电子学与探测技术.2015

[5].闫文超,苏鲁宁,林晓宣,杜飞,袁大伟.高反射效率高定向性的热解石墨晶体X射线谱仪[J].物理学报.2014

[6].赵阳,青波,熊刚,胡智民,韦敏习.平面晶体谱仪弯曲谱线波长定标方法[J].强激光与粒子束.2014

[7].钱凤,曹磊峰,肖沙里,周维民,赵宗清.硬X射线透射晶体谱仪的设计性能参数[J].强激光与粒子束.2013

[8].蔡红春,黄显宾,段书超,李晶,周少彤.时间分辨晶体谱仪在Z箍缩等离子体中的应用[J].强激光与粒子束.2013

[9].赵阳,韦敏习,朱托,熊刚,胡智民.基于平面晶体谱仪的X射线光谱定量测量技术[C].第十六届全国原子与分子物理学术会议论文摘要集.2011

[10].梁冰.五通道柱面晶体谱仪关键技术研究[D].重庆大学.2011

论文知识图

晶体谱仪实物 实验结果及分析条纹相机配晶体谱仪的测量结果椭圆晶体谱仪光谱强度各修正因...Z箍缩装置上的球面晶体谱仪椭圆型聚焦晶体谱仪的特性。(a)波...云母凸晶体谱仪在“阳”加速器...

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晶体谱仪论文_杨新帅
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