论文摘要
建立了X射线荧光光谱法测定钼精矿中Mo,Si,Ca,Cu,Pb,W,Bi,P,As,Sn的分析方法。通过固体纯物质机械混合研磨配制了校准曲线所用的12个标准样品。钼精矿样品在600℃进行了灼烧处理。采用混合熔剂（Li2B4O7:LiBO2:LiF=10:2. 5:1,m/m/m）加氧化剂LiNO3,并且以低稀释比（混合熔剂:LiNO3:灼烧后试样=4:0. 6:0. 8,m/m/m）熔融制备了X射线荧光法所用玻璃片样品。使用背景曲线法计算As元素的可靠背景强度;采用干扰曲线法校正MoL1对P Kα,Pb Lα对As Kα的谱线重叠干扰;采用经验系数法和Rh靶Compton内标法对各分析元素的基体效应影响进行了校正。钼精矿中微量元素检出限分别为:Cu（9. 4×10-4%）,Pb（1. 8×10-3%）,W （2. 2×10-3%）,Bi（1. 9×10-3%）,P（9. 0×10-4%）,As（6. 1×10-4%）,Sn（2. 3×10-3%）。
论文目录
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 童晓民,王楠,董再蒸
关键词: 射线荧光光谱,钼精矿,低稀释比
来源: 分析试验室 2019年03期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅰ辑,基础科学
专业: 地质学,化学
单位: 东北大学分析测试研究中心
分类号: O657.34;P575
DOI: 10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2018.060701
页码: 369-373
总页数: 5
文件大小: 101K
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