基于叠层扫描成像技术的成像透镜透射波前测量方法

基于叠层扫描成像技术的成像透镜透射波前测量方法

论文摘要

将叠层扫描成像技术(ePIE)用于成像透镜透射波前的高精度测量。将透镜的透射光束照射至一个固定于二维扫描台的衍射物上,并在其后的探测器上形成衍射光斑,扫描台横向扫描并记录衍射物在每个位置所形成的衍射光斑,采用ePIE精确重建衍射物体的光场复振幅,并据此反演出透镜后表面的透射光波前;移去透镜后重复上述步骤,可以重建入射到透镜上的光束波前;将透射波前减去入射波前即可得到透镜的透射波前。该方法具有准确性高、结构简单、成本低廉等优点。

论文目录

  • 1 引 言
  • 2 测量原理
  • 3 数值模拟和实验测量
  • 4 结 论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 纵榜铭,栾嘉蕴,蒋志龙,孔艳,王绶玙,刘诚

    关键词: 测量,透镜透射波前,叠层扫描成像技术,衍射成像,波前重建

    来源: 中国激光 2019年08期

    年度: 2019

    分类: 基础科学,工程科技Ⅱ辑,信息科技

    专业: 仪器仪表工业,计算机软件及计算机应用

    单位: 江南大学理学院

    基金: 国家自然科学基金(U1730132,61705092),江苏省自然科学基金(BK20170194,BK20180598)

    分类号: TP391.41;TH74

    页码: 139-145

    总页数: 7

    文件大小: 1194K

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