寄存器模型论文-陈富强

寄存器模型论文-陈富强

导读:本文包含了寄存器模型论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献,主要关键词:UVM验证平台,寄存器模型,流水线,固有问题

寄存器模型论文文献综述

陈富强[1](2018)在《UVM中寄存器模型遇到流水线时的不足及解决办法》一文中研究指出分析了UVM(Universal Verification Methodology)验证平台和使用UVM中寄存器模型的验证过程,通过研究流水线工作方式和验证过程中read()、write()任务工作的流程,证明UVM中寄存器模型在解决流水线方面的问题时存在固有的问题。然后结合寄存器验证中常见的复位验证、交叉位验证等给出合适的解决方案。(本文来源于《电子技术与软件工程》期刊2018年12期)

何伟基,陈钱,顾国华,张闻文[2](2011)在《利用传输线模型的载流子倍增寄存器的频率特性研究》一文中研究指出介绍了一种电荷载流子倍增寄存器(CCM)电极间隙的传输线模型,通过求解其波动方程得到了电荷载流子倍增寄存器电极间隙的电势分布及电场分布。模拟分析表明:电荷载流子倍增寄存器电极间隙的电势分布是与电荷载流子倍增寄存器工作频率相关的函数。电势分布沿信号电荷密度流方向衰减且电荷载流子倍增寄存器工作频率越高,电势衰减越快。电荷载流子倍增寄存器工作频率趋于零时,电场强度分布均匀。随着工作频率增加,电场分布呈现非均匀分布。频率越高,电场强度的峰值越大,沿信号电荷密度流方向衰减越明显。因此,电荷载流子倍增寄存器工作频率越高,其电荷倍增因子越小。(本文来源于《红外与激光工程》期刊2011年02期)

周蓓蓓,陈钱,何伟基[3](2011)在《电子倍增CCD中电荷载流子倍增寄存器的分布式等效电路模型》一文中研究指出为了研究电子倍增电荷耦合器件(EMCCD)中电荷载流子倍增寄存器(CCM)内部电荷的倍增及转移特性,提出了一种适用于CCM的电荷传输机制仿真的分布式等效电路模型。利用泊松方程求解了均匀掺杂条件下CCM单元的电势分布,通过基尔霍夫电压定律(KVL)得到了该单元的最大电势表达式,从而得到了其分布式等效电路。同时,结合该单元内的电势分布求解,最终得到了分布式等效电路模型。通过对该模型的分析表明:CCM单元内电极间的间隙越小,电荷倍增率越大。CCM电荷传输主要受到自感生电场和热扩散电场作用,由于自感生电场的电荷迁移率作用,大部分电荷在时钟周期的初始阶段完成转移。(本文来源于《红外与激光工程》期刊2011年02期)

杨修涛[4](2006)在《集成电路寄存器传输级故障模型与测试生成研究》一文中研究指出随着集成电路设计技术的发展,其相应的测试也变得十分重要。测试生成为测试过程中的一个重要环节。本文首先综述了当前基于集成电路寄存器传输级(Register Transfer Level,简称RTL)的测试生成方法和验证方法。在此基础上给出作者所提出的RTL测试生成方法,同时考虑到当前RTL测试生成的困难在于缺少有效的故障模型,本文还给出了RTL故障模型分析方法。本文工作主要体现在以下叁个方面:1.兼顾RTL代码内部分枝的状态测试生成。本文在状态覆盖的基础上,给出一种虚扩展状态转换的方法,该方法将状态转换同其内部分枝有效的结合在一起。在此基础上再进行状态覆盖测试生成,生成的测试向量可以实现对RTL代码内部分枝的覆盖。结合提出的这种方法,选用了部分ITC99-benchmark电路进行了相关实验,给出了实验数据和相关分析,与VTG比较,比VTG生成的测试向量要少一半,而覆盖率平均以后大致相等。2.基于遗传算法的时序电路测试向量生成。文中引入遗传算法,并以状态与状态转换为评估。引入静态状态转换(图)及动态状态转换(图)的概念。给出了静态、动态状态转换的叁个基本属性。在此方法的基础上,给出了实验数据,并将结果X-Pulling系统作比较。比较的结果说明:在覆盖率相近的情况下,比X-Pulling运行速度快一个数量级。3. RTL故障模型分析。本文针对RTL故障模型进行分析,分析它与门级固定型故障模型之间的关系;RTL故障模型之间的关系。给出了一些基本概念和定义,依据这些概念和定义又推导出一些推论。在上述分析的基础上,给出了这些分析的一个应用:RTL故障模型序列的寻找及建立。通过分析不同RTL故障模型间的关系,寻找互相不能完全覆盖的RTL故障模型,并将它们作为一个序列用于指导进一步的RTL测试生成。同时,使用叁个故障模型作例子,说明该方法、过程。模型序列对于寻找有效RTL故障模型是十分有帮助的。(本文来源于《中国科学院研究生院(计算技术研究所)》期刊2006-03-10)

沈立,肖晓强,戴葵,王志英[5](2004)在《通过寄存器队列模型实现寄存器分配和指令调度》一文中研究指出寄存器分配与指令调度是编译器优化过程中的两项重要任务 .由于这两个阶段通常是独立完成的 ,寄存器分配往往会引入不必要的伪相关 ,从而影响指令调度的效率和结果 ,影响最终性能的提高 .本文提出了寄存器队列模型 ,并在其基础上提出了一种结合实现寄存器分配和指令调度的算法 ,该算法能够在保证每条指令的执行时间最早的同时使用最少数目的寄存器 .它的另外一个优点是具有线性的时间和空间复杂度 ,而且易于硬件实现(本文来源于《小型微型计算机系统》期刊2004年04期)

高燕[6](2003)在《基于寄存器传输级层次模型的测试生成研究》一文中研究指出集成电路(Integrated Circuit,简称IC)的设计验证和测试是确保数字系统正常工作的必要手段。无论是设计验证还是芯片测试,测试生成都作为其主要内容而被广泛关注。本文首先综述了集成电路的测试和设计验证的基本原理和方法;其次针对设计所采用的寄存器传输级(Register Transfer Level,简称RTL)行为描述方式,介绍了若干已有的高层次测试生成方法;最后提出了一种可行的RTL级测试生成算法,所产生的测试序列可有效地应用于电路的功能测试或设计验证。本文工作贡献主要有以下叁个方面:1.建立了一种有效的RTL行为模型。本文从电路的控制结构和数据路径两方面出发,建立了电路的控制流图和数据流图两层次模型:第一层通过控制流图反映电路语句间的连接关系;第二层通过控制流图中的每一结点所对应的数据流图,反映语句的具体操作。该模型实现了对电路的分层描述,相对于以往的电路模型具有形式简单、规模小、易于处理的优点,便于根据测试的具体需求处理相应的模型层次,从而降低处理复杂性,提高系统效率。此外,该模型具有良好的通用性,基于该模型可进行电路模拟、测试生成、验证等操作。2.制定了一种语句可测性测度。为了能更好地把握语句执行,本文从语句的功能实现和执行时序两方面出发考虑语句性能,定义了静态时序深度和动态时序深度概念,分别度量语句的功能实现和执行时序,并给出了相应算法。由此将语句执行的横向、纵向相结合反映电路性能,为高层次测试生成提供了方便。3.提出了一种基于测试用例的RTL级测试生成方法。本文基于控制流图/数据流图两层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观覆盖为目标,给出一高层次测试用例生成算法,即通过两个子过程的交替进行生成电路的测试用例块。并在此基础上,采用一定填充策略填充未知位,生成满足覆盖需求的、一定长度的测试序列,实现测试生成。实验数据表明,本文测试生成系统的执行时间相对于基于遗传算法的RTL测试生成Prince系统、基于电路结构的无回溯的TiDE系统均有所缩减,且可生成较短的测试序列,获得与其它方法相当或略低的门级固定型故障覆盖率;此外由于该方法采用了测试用例技术,可通过不同的用例填充、组合方式得到不同的测试序列,从而具有良好的可扩展性。(本文来源于《中国科学院研究生院(计算技术研究所)》期刊2003-12-01)

寄存器模型论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

介绍了一种电荷载流子倍增寄存器(CCM)电极间隙的传输线模型,通过求解其波动方程得到了电荷载流子倍增寄存器电极间隙的电势分布及电场分布。模拟分析表明:电荷载流子倍增寄存器电极间隙的电势分布是与电荷载流子倍增寄存器工作频率相关的函数。电势分布沿信号电荷密度流方向衰减且电荷载流子倍增寄存器工作频率越高,电势衰减越快。电荷载流子倍增寄存器工作频率趋于零时,电场强度分布均匀。随着工作频率增加,电场分布呈现非均匀分布。频率越高,电场强度的峰值越大,沿信号电荷密度流方向衰减越明显。因此,电荷载流子倍增寄存器工作频率越高,其电荷倍增因子越小。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

寄存器模型论文参考文献

[1].陈富强.UVM中寄存器模型遇到流水线时的不足及解决办法[J].电子技术与软件工程.2018

[2].何伟基,陈钱,顾国华,张闻文.利用传输线模型的载流子倍增寄存器的频率特性研究[J].红外与激光工程.2011

[3].周蓓蓓,陈钱,何伟基.电子倍增CCD中电荷载流子倍增寄存器的分布式等效电路模型[J].红外与激光工程.2011

[4].杨修涛.集成电路寄存器传输级故障模型与测试生成研究[D].中国科学院研究生院(计算技术研究所).2006

[5].沈立,肖晓强,戴葵,王志英.通过寄存器队列模型实现寄存器分配和指令调度[J].小型微型计算机系统.2004

[6].高燕.基于寄存器传输级层次模型的测试生成研究[D].中国科学院研究生院(计算技术研究所).2003

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