导读:本文包含了最小测试集论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:测试,算法,最小,混沌,最小化,极小,事件。
最小测试集论文文献综述
邓秋辉[1]（2017）在《基于UVM验证平台的回归测试集生成和最小化研究》一文中研究指出近年来,随着集成电路的集成度越来越高,电路的结构和功能越来越复杂。在芯片的开发过程中,能否高效且完备的对芯片进行验证已成为制约芯片的质量、开发成本和设计周期的关键。回归测试作为芯片验证的重要手段,在芯片设计过程中将被频繁的执行,用来确保芯片的修改不会影响芯片原有的功能和引入新的错误。但是,巨大的测试用例集使得回归测试的运行代价非常昂贵。目前,如何在保证测试完备性的前提下对测试用例集进行优化是芯片验证人员关注的热点问题之一。主流的测试用例集优化技术包括测试用例最小化、测试用例选择和测试用例优先级排序。本文主要针对回归测试模型讨论如何进行回归测试用例集的生成和最小化,降低回归测试的成本,提高测试效率。具体内容主要包括以下几个方面。第一,针对回归测试用例集的生成,本文基于UVM验证方法学设计回归测试平台,以功能覆盖率为驱动自动生成一组测试激励作为回归测试用例集,减少人为编写测试用例的过程。生成的测试用例集将作为初始测试用例集进行测试用例最小化的研究。第二,针对测试用例最小化问题,本文将遗传算法和贪心算法相结合,提出一种混合遗传算法用于解决测试用例缩减问题。该算法对选择、交叉和变异操作进行改善,提高算法的全局寻优能力;同时,利用贪心算法处理可行解和不可行解,提高算法的局部寻优能力。最后,将标准遗传算法和混合遗传算法分别应用于测试用例最小化问题上。实验结果表明,在保证测试完备性的前提下,混合遗传算法能够得到更优的缩减效果和更快的收敛速度。(本文来源于《浙江大学》期刊2017-05-01）
李玲,王学伟,杨立国,王琳[2]（2014）在《A/D转换器最小完备测试集生成与故障诊断方法研究》一文中研究指出为了减少A/D转换器测试集的冗余度,及其在故障诊断时的工作量大,征兆混淆等问题。文中建立了故障A/D转换器的输入输出模型,并采用最大相异性模型算法生成A/D转换器固定逻辑"0"故障和固定逻辑"1"故障的最小完备测试集。同时,提出了将A/D转换器数字输出向量在二元域GF(2N)空间中正交分解后分别提取特征量的方法来完成无噪声影响位和噪声影响位的故障识别。通过仿真验证表明:输入A/D转换器的测试电平数量减少了99.9%。本文生成的最小完备测试集不仅能够满足紧凑性条件和完备性条件,而且极大降低了测试向量的冗余度。本文提出的故障诊断方法提高了故障诊断的时间效率和准确度,解决了A/D转换器噪声影响位由于征兆混淆而无法完成故障识别的问题。(本文来源于《电测与仪表》期刊2014年03期）
李瑞娟[3]（2011）在《基于蚁群算法的最小电路测试集生成算法》一文中研究指出为了提高电路故障的测试速度和精度,在现有的传统故障测试集生成算法的基础上,引入蚁群生物的路径规划策略,设计一种基于蚁群算法的电路故障最小测试集生成算法。详细阐述蚁群算法的设计思想,给出数字电路测试问题向蚁群规划问题的转换过程,包括基于蚁群算法的最小测试集生成流程。并对设计的电路故障最小测试集生成算法进行了理论上的性能分析和实际的测试验证,测试结果表明该算法具有较高的综合效率。(本文来源于《柳州职业技术学院学报》期刊2011年02期）
刘佳,王红,杨士元,吕政良[4]（2010）在《求解最小完全测试集的第一原理方法》一文中研究指出应用第一原理的故障诊断思想,基于故障测试矩阵,提出了一种根据系统每一个故障都可检测的行为与系统所有故障不能检测的行为之间的不相容推理技术,来判断和求取系统存在的所有最小完全测试集的方法。方法分两步:一是根据系统的结构和测试矢量等知识,结合故障测试矩阵,识别冲突集候选;二是根据冲突集候选,确定最小命中集合组,生成最小完全测试集。该方法可有效求解最小完全测试集,减少测试矢量施加的工作量,提高故障诊断的效率。(本文来源于《计算机工程与应用》期刊2010年31期）
吴丽华,王轸,项傅佳,马怀俭[5]（2006）在《基于故障仿真确定测试矢量最小测试集方法的研究》一文中研究指出为了减少测试矢量,有必要对电路中的故障加以分析,寻找各类故障之间的关系,以求压缩测试矢量。本文提出了一种通过并行故障仿真来确定测试矢量最小故障集的方法。该方法将并行故障仿真与布尔约简法相结合,利用并行故障仿真结果确定出故障点和测试矢量的对应关系,然后根据布尔约简法即可求出测试矢量的最小故障集。(本文来源于《电测与仪表》期刊2006年10期）
张菲菲,鲁昌华,王妍妍[6]（2006）在《几种求取电路最小测试集算法的比较研究》一文中研究指出近年来发展的离散事件系统(DES)为数模混合电路中数字信号和模拟信号提供了一种统一的测试方法,而求取电路的最小测试集一直是该研究领域的重点和难点。本文阐述了目前学者提出的几种求取最小测试集算法的基本思想,分析了各算法的优缺点,并深入地比较了各个算法,通过具体实验说明了各算法的优劣性,最后指出了该学科今后的发展方向。(本文来源于《电测与仪表》期刊2006年03期）
张菲菲,鲁昌华,陈胜军,王妍妍[7]（2005）在《求取电路最小测试集的优化算法的比较研究》一文中研究指出离散事件系统(DES)理论的发展为数模混合电路中的数字信号和模拟信号的测试提供了一种统一、系统、有效的方法。在基于DES理论的电路可测试性研究中,其中重要的一项工作就是求取电路的最小测试集。首先介绍了目前求取电路最小测试集的几种优化算法的思想和实现方案,然后对它们进行了比较,并对下一步研究方向进行了展望。(本文来源于《国外电子测量技术》期刊2005年12期）
崔鹏,刘红静[8]（2005）在《关于最小测试集的线性规划松弛近似》一文中研究指出目前最小测试集的最佳近似比是贪心算法的2lnn-o(1)。这个近似比能否改进是一个公开的问题。本文讨论了最小测试集的基于线性规划松弛的近似比证明方法的能力问题。我们证明最小测试集的整性间隙至少为0.72lnn,而且最小测试集整性间隙的系数可以与最小集合覆盖的整性间隙的系数一样大。另外,我们说明加权最小测试集的贪心算法的近似比不能通过对偶拟合方法改进超过一个常数。(本文来源于《计算机科学》期刊2005年10期）
康波,陈光■,吕炳朝[9]（2005）在《基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法》一文中研究指出利用混沌序列的随机性、遍历性及规律性等特点来控制遗传算法中交叉与变异操作 ,即混沌交叉与混沌变异 ,提出了一种改进的遗传算法——混沌遗传算法 ,并针对数字集成电路的故障完备测试集的最小化问题的具体特点 ,分析并设计了基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法 ,仿真实验验证了该方法的高效性与实用性 ,其性能明显优于标准遗传算法。(本文来源于《仪器仪表学报》期刊2005年01期）
赵岩岭,刘春,曹源,高翠云,陈胜军[10]（2004）在《基于GASA的最小测试集求取的研究》一文中研究指出近年来发展的离散事件系统(DES)理论可提供一种统一的对数模混合电路中数字电路和模拟电路测试都有效的方法。对基于DES理论的可测试性研究中电路最小测试集的求取问题,提出了一种运用GASA混合策略的组合优化方法,并对进一步的研究工作进行了展望。(本文来源于《仪器仪表学报》期刊2004年S1期）
最小测试集论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
为了减少A/D转换器测试集的冗余度,及其在故障诊断时的工作量大,征兆混淆等问题。文中建立了故障A/D转换器的输入输出模型,并采用最大相异性模型算法生成A/D转换器固定逻辑"0"故障和固定逻辑"1"故障的最小完备测试集。同时,提出了将A/D转换器数字输出向量在二元域GF(2N)空间中正交分解后分别提取特征量的方法来完成无噪声影响位和噪声影响位的故障识别。通过仿真验证表明:输入A/D转换器的测试电平数量减少了99.9%。本文生成的最小完备测试集不仅能够满足紧凑性条件和完备性条件,而且极大降低了测试向量的冗余度。本文提出的故障诊断方法提高了故障诊断的时间效率和准确度,解决了A/D转换器噪声影响位由于征兆混淆而无法完成故障识别的问题。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
最小测试集论文参考文献
[1].邓秋辉.基于UVM验证平台的回归测试集生成和最小化研究[D].浙江大学.2017
[2].李玲,王学伟,杨立国,王琳.A/D转换器最小完备测试集生成与故障诊断方法研究[J].电测与仪表.2014
[3].李瑞娟.基于蚁群算法的最小电路测试集生成算法[J].柳州职业技术学院学报.2011
[4].刘佳,王红,杨士元,吕政良.求解最小完全测试集的第一原理方法[J].计算机工程与应用.2010
[5].吴丽华,王轸,项傅佳,马怀俭.基于故障仿真确定测试矢量最小测试集方法的研究[J].电测与仪表.2006
[6].张菲菲,鲁昌华,王妍妍.几种求取电路最小测试集算法的比较研究[J].电测与仪表.2006
[7].张菲菲,鲁昌华,陈胜军,王妍妍.求取电路最小测试集的优化算法的比较研究[J].国外电子测量技术.2005
[8].崔鹏,刘红静.关于最小测试集的线性规划松弛近似[J].计算机科学.2005
[9].康波,陈光■,吕炳朝.基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法[J].仪器仪表学报.2005
[10].赵岩岭,刘春,曹源,高翠云,陈胜军.基于GASA的最小测试集求取的研究[J].仪器仪表学报.2004
论文知识图
