磁暴事件对高精度TEC二维分布的影响

磁暴事件对高精度TEC二维分布的影响

论文摘要

电离层总电子含量(TEC)是电离层探测与研究工作的重要特征参量之一.利用地基GPS接收站台网,可以获得大量的垂直TEC数据.本文提出一种高精度TEC地图重构方法,基于Kriging法对垂直TEC进行插值处理,实现了亚大区域高分辨率TEC二维分布的重构,并与实测数据对比验证了本方法的精度和有效性.基于此二维分布,分析了区域TEC值随时间、纬度的变化情况;重点分析了磁静日与磁暴期间南北半球不同纬度TEC值的不同表现特征,并给出了磁暴期间不同纬度TEC的变化趋势所存在的差异及其解释,相关研究成果可为区域高分辨率电离层监测系统的建立提供方法支撑.

论文目录

  • 0 引 言
  • 1 Kriging插值方法
  •   1.1 半变异函数 (semi-variogram)
  •   1.2 Kriging方法
  • 2 TEC的二维分布结果与分析
  •   2.1 数据来源
  •   2.2 TEC的二维分布与精度验证
  •   2.3 实测数据成像结果分析
  • 3 结 论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 余侯芳,郭文兴,张玉强,冯健,甄卫民

    关键词: 全球卫星导航系统,电离层总电子含量,方法,亚大地区,磁暴

    来源: 全球定位系统 2019年03期

    年度: 2019

    分类: 信息科技,基础科学

    专业: 地球物理学,电信技术

    单位: 中国电波传播研究所,中兴通讯股份有限公司,西安电子科技大学物理与光电工程学院

    基金: 国家重点研发计划(2018YFB0505100)

    分类号: P352;TN967.1

    DOI: 10.13442/j.gnss.1008-9268.2019.03.004

    页码: 23-31

    总页数: 9

    文件大小: 2452K

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