论文摘要
KDP/DKDP倍频晶体是惯性约束聚变系统中的关键元件,其主截面方向与晶体相位匹配角、晶体吸收系数紧密相关。为了实现KDP/DKDP倍频晶体主截面方向的高精度定位,本文提出一种光强测量间接定位方法。通过激光器结合稳功率仪及半波片输出稳定线偏振光,同时旋转相互正交的起偏器与检偏器可获得晶体的最佳消光位置即为主截面方向。推导了该测量系统光强的琼斯矩阵模型,给出了光强与起偏器、检偏器角度间的关系表达式。采用最小二乘方法拟合经过起偏器、倍频晶体及检偏器的光强变化曲线,从而可精确定位倍频晶体主截面的方向。通过计算机仿真模拟和实验验证了该方法的正确性和可行性。实验表明,该方法定位的重复测量精度优于0.02°,满足惯性约束聚变系统中KDP/DKDP倍频晶体主截面的定位控制精度要求。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 高波,阴万宏,李强,姜昌录,杨斌,柴立群
关键词: 倍频晶体,主截面,琼斯矩阵,最小二乘拟合
来源: 光学精密工程 2019年02期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅱ辑,基础科学,工程科技Ⅰ辑
专业: 物理学,化学
单位: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心,西安应用光学研究所
基金: 中国工程物理研究院资助项目(No.GFZX02050102.1)
分类号: O734
页码: 295-301
总页数: 7
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