自相关分析法用于电离层TEC的内插评估

自相关分析法用于电离层TEC的内插评估

论文摘要

基于2004年实测数据的统计分析,将自相关分析法用于电离层TEC的缺值内插,并进行精度评估.采用上海地区GPS综合应用网和中国地壳运动GPS监测网数据,解算成电离层垂直TEC,对缺值进行了时序内插及评估.结果表明,缺值段内的插值误差一般中间较大,两侧较小,插值误差远小于均方差.将自相关分析法内插结果与线性插值法、抛物线法、三次样条法内插结果进行对比,发现对于缺值较多、变化较复杂的缺值段,其插值精度有明显的提高.采用自相关方法进行内插后,有效减小了由于缺值而引起的局部跳跃变化,可以比较准确地研究TEC变化特性.

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文章来源

类型: 期刊论文

作者: 王建平,刘瑞源,邓忠新

关键词: 电离层,内插精度,变化特性

来源: 空间科学学报 2019年06期

年度: 2019

分类: 基础科学

专业: 地球物理学

单位: 宝鸡文理学院物理与光电技术学院,中国极地研究中心,中国电波传播研究所

基金: 国家自然科学基金项目(NNSFC 40890164),公益性行业(气象)科研专项(200806072),宝鸡市科技计划项目(2017JH2-19),宝鸡文理学院重点项目(ZK2017023)共同资助

分类号: P352.7

页码: 738-745

总页数: 8

文件大小: 1093K

下载量: 42

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