一、JB/T 9184-1999《统计尺寸公差》介绍（论文文献综述）
张宇[1]（2012）在《统计公差“零件批（过程）的统计质量指标”标准介绍与分析》文中认为本文对GB/Z24636.3—2009做了全面介绍,介绍了零件批及制造过程的定义,以及零件层次的直接和间接质量指标的公式表达及推导,侧重于标准起草时对标准涉及的一些重要指标及数值标准化分级、应用图表构成的基本思路和应用要点。
张宇[2]（2012）在《统计公差值及其图样标注标准介绍与分析》文中研究表明本文对GB/Z24636.2—2009进行统计公差值及其图样标注的说明与分析。通过对三个层次的统计公差的标注形式和相应的统计公差带描述,使读者更清晰地把握统计公差的图样标注及选用。对统计公差通用要求、特定要求的N倍西格玛质量水平,以及采用质量目标函数表示的统计公差标注和应用做了说明。
张宇[3]（2012）在《统计公差标准中术语、定义和基本概念的介绍与分析(续)》文中研究表明3关于三个层次统计公差的基本概念与分析（1）关于统计公差的控制方案及统计公差带JB/T9184—1999《统计尺寸公差》第4章中规定了限定实际尺寸概率分布的三个方案:①规定实际尺寸的中间区上限、下限及中间区频率,或规定实际尺寸的上边区上限、下限及上边区频率和下边区上限、下限及下边区频率;②规定实际尺寸算数平均区间;
张宇[4]（2011）在《统计公差标准中术语、定义和基本概念的介绍与分析》文中进行了进一步梳理本文对统计公差系列标准的基本术语和定义给予说明与分析。侧重介绍分析了过程偏移相关的参数、统计公差的应用条件、质量损失及平均质量损失率的内涵及其作为Cp和k（及Cp和δ）的函数形式。论述了关于三个层次统计公差的基本概念,分析了建立三个层次的统计公差及选择Cp-k二维平面及Cp–δ二维平面作为标准化的中间界面的基本思路。
张宇[5]（2011）在《统计公差系列标准简介》文中研究表明本文对GB/Z24636.1～5《产品几何技术规范（GPS）统计公差》系列标准做了总体介绍。分别介绍了统计公差与质量指标、制造过程及过程质量评价的内涵,以及统计公差新标准制定的目的和意义及统计公差系列标准的发展背景,还介绍了统计公差系列标准总体结构和各部分主要内容。
熊焜[6]（2010）在《GB/Z 24636.1～.4—2009《产品几何技术规范（GPS）统计公差》系列标准中统计公差的图样标注解析》文中研究说明机械行业中有两种公差,单个零件的尺寸公差和零件批量的统计公差,单个零件的尺寸公差规定的技术规范是控制单个零件的几何特定值范围,而零件批量统计公差规定的技术规范是控制零件批的统计参量的变化范围。生产中产品质量取决于设计质量、加工质量及生产
房纪涛[7]（2010）在《面向质量目标的统计过程控制方法与应用研究》文中提出制造过程质量是实现设计意图、保证产品质量的重要基础,过程质量控制已成为企业质量改进的先行技术。企业为了提高质量、降低成本就需要最大限度地控制和减少围绕设计目标产生的波动,尽可能的实现预期的质量目标。如何建立质量目标与过程质量控制之间的联系,从而确保质量目标的实现逐渐成为国内外质量控制研究者和实践者关注的焦点。本文提出的面向质量目标的统计过程控制方法的研究和应用,在预期的质量目标与现场的过程质量控制之间建立了一座桥梁,实现面向质量目标的制造过程质量集成控制,在生产过程中确保预期的质量目标实现。其应用价值在于可以用和传统方法相同的工艺成本和设备条件实现机械产品更高的质量和精度,为有效地定量控制关键工序的废品率提供了一种可操作性强且规范化的新方法,对提升我国机械制造业的产品质量和制造精度水平有重大现实意义。论文的主要工作及创新成果如下:1、根据确立质量目标的需求,研究了满足不同质量控制要求的质量指标及评价体系,主要包括以反映过程不合格率为特征的指标和以反映过程质量损失率和对中性为特征的指标,同时建立这个质量指标体系对应于一定的过程能力可实现性的合理分级。2、研究了面向质量目标的统计公差及公差带的表达方式,总结了满足控制功能和三个层次的统计公差的定量要求,为质量指标的选择、统计过程控制图及其参数设计、给定置信度的抽样方案设计提供了所需要的标准化的方法。实现了这种统计公差技术功能的拓展、内涵的深化和创新,使其成为了指导统计过程控制、保证预期质量目标的不可缺少的界面。3、基于上述面向质量目标的统计公差技术研究,提出了面向质量目标的统计过程控制方法,解决了生产过程中预期质量指标的实现问题。分别研究了面向质量目标的计量型常规控制图的设计及应用流程,以及针对过程小偏移情况的面向质量目标的累积和控制图（CUSUM）和面向质量目标的指数加权滑动平均控制图（EWMA）的参数优化设计及应用流程。4、实现了面向质量目标的统计过程控制方法的初步应用研究,以系统研发的形式实现了对理论方法的进一步拓展和深化,结合具体企业的车间集成质量系统项目的开发实施,对该方法的推广应用进行了初步探索。通过系统运行分析,实现了对生产过程的实时监控和趋势分析,确保了过程在受控和有能力的状态下运行时质量目标的合理改进和实现。
朱长春[8]（2010）在《计入公差的随机虚拟样机三维零件生成方法研究》文中进行了进一步梳理本文主要分为三个部分,首先介绍了计入公差的零件三维模型生成系统的应用和开发环境,利用Pro/E提供的VB API开发工具,提出了系统设计方案,并对开发系统的硬件与软件做了详细的阐述。其次,设计了“计入尺寸公差的零件三维模型生成系统”,研究了多种概率分布随机数的算法,将零件三维模型的尺寸与不同分布概率下随机数相结合,通过编程生成随机尺寸三维模型。最后,阐述了形位公差三维模型的表达方法,将零件的形位公差与三维模型相结合,设计了“计入形位公差的零件三维模型生成系统”。本课题的研究成果为进一步深入研究虚拟样机的保真性与Pro/E建模软件的开发做了充分的准备工作,为后续研究人员奠定了基础。
刘丽云[9]（2010）在《基于不同加工方法的零件配合平均盈隙性及控制》文中研究表明定义了平均盈隙性。指出要保证零件配合质量,就要使其配合能够得到好的平均盈隙性。介绍了采用"调整法"和"试切法"加工出的零件各自的实际尺寸分布规律及配合后的平均盈隙性特点,并给出了提高"试切法"制成的零件配合平均盈隙性的2种方法。
杨慕升[10]（2009）在《统计公差技术及其在制造过程质量控制中的应用研究》文中指出本文以制造过程为研究背景,以统计公差为研究方法,以质量控制为研究目标,研究了面向质量目标的零件层次,配合层次及装配层次的统计公差技术,并结合现代制造技术的特点,研究了面向质量目标的统计公差技术在制造过程质量控制中的应用。论文对统计公差技术的研究现状、国内外研究水平及发展趋势进行了论述,对国内外统计公差的分析方法进行了总结。阐述了论文研究的目的、意义及理论和应用价值。基于制造过程质量目标,对面向零件层次的统计公差技术进行了研究,提出了统计公差参数及质量目标参数的定义及计算方法；建立了基于质量目标的Cp-k平面内的坐标系统,并将多个质量目标与统计公差参数坐标平面相结合,建立了面向质量目标的图形化统计公差带；建立了满足不同质量控制要求的质量指标及评价体系。为质量目标的确定和控制提供了更加方便、准确和直观的方法。在研究了零件层次的统计公差技术的前提下,对配合层次和装配层次的统计公差技术进行了研究,在国际上关于过程能力指数的概念及统计方法基础上,提出了面向制造过程的过程能力指数计算方法。建立了配合质量的评判指数及其与配合尺寸之间函数关系的数学模型和基于预定配合质量和已知配合尺寸统计参数条件下的统计公差的计算,为保证预定配合质量为目标的统计公差及协调统计控制方法提供了理论基础。通过对适合制造过程参数建模的β分布的分析,对非正态分布的制造过程统计公差技术进行了研究,提出了当零件尺寸为非正态分布组成的非线性尺寸的统计公差分析方法（N2A-BDAM）；对贝塔分布的分布拟合参数进行了数学建模和软件开发,提出了并行考虑产品设计、制造及使用条件下的基于统计公差技术的真实环境中的并行质量优化控制问题,建立了优化算法并给出了实例。针对目前制造模式的变化和新技术的要求,研究了现代先进制造模式下统计公差技术在质量控制中的应用。提出了异地制造模式下制造质量协同控制的方法、系统的体系结构。深入地研究了基于STA、SPC和EPC方法的智能集成质量控制技术。设计开发了关于概率、统计过程推断及统计公差的C++库函数,以此为基础,开发了基于统计公差的制造过程集成化质量控制系统。最后通过几个较详细的实例进一步说明了对研究成果的应用。
二、JB/T 9184-1999《统计尺寸公差》介绍（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、JB/T 9184-1999《统计尺寸公差》介绍（论文提纲范文）
（1）统计公差“零件批（过程）的统计质量指标”标准介绍与分析（论文提纲范文）
| 1 GB/Z 24636.3—2009的整体结构 |
| 2 关于零件批及制造过程的说明与分析 |
| (1) 关于零件批 |
| (2) 关于制造过程 |
| 3 关于过程的直接质量指标及其表达式 |
| (1) 关于中间区率 |
| (2) 过程不合格率Pd及中间区率的公式推导 |
| 4 关于过程的间接质量指标及其表达式 |
| 5 关于过程质量指标分级 |
| (1) 不合格率Pd的标准化数值分级 |
| (2) 中间区率的标准化数值分级 |
| (3) 质量损失率Pql的标准化数值分级 |
| 6 关于统计公差的应用图表设计 |
| 7 关于统计公差应用图表的使用 |
| 8 关于GB/Z 24636.3—2009的附录A |
（2）统计公差值及其图样标注标准介绍与分析（论文提纲范文）
| 1 GB/Z 24636.2—2009总体构架 |
| 2 关于统计公差值的说明与分析 |
| 3 关于统计公差的通用要求 |
| 4 关于统计公差在图样上的标注 |
| 5 关于中、下层统计公差在质量控制文件中的表示 |
| 6 关于特定要求的N倍西格玛质量水平及各项统计公差数值 |
| 7 关于采用质量目标函数表示的统计公差及其标注 |
（3）统计公差标准中术语、定义和基本概念的介绍与分析(续)（论文提纲范文）
| 3关于三个层次统计公差的基本概念与分析 |
| (1) 关于统计公差的控制方案及统计公差带 |
| (2) 关于统计公差的三个层次 |
| (3) 为什么要建立三个层次的统计公差 |
（7）面向质量目标的统计过程控制方法与应用研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景及意义 |
| 1.2 研究思路及方法 |
| 1.2.1 课题研究思路 |
| 1.2.2 课题技术路线 |
| 1.3 国内外研究进展与现状 |
| 1.3.1 统计过程质量控制方法 |
| 1.3.2 统计过程质量控制图 |
| 1.3.3 统计公差技术 |
| 1.3.4 文献小结 |
| 1.4 课题的主要研究内容 |
| 1.4.1 论文的研究内容 |
| 1.4.2 论文的章节安排 |
| 第二章 制造过程计量型质量指标体系研究 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 制造过程计量型质量评价指标及标准化分级 |
| 2.2.1 评价过程质量符合性的主要指标 |
| 2.2.2 评价过程对中性的主要指标 |
| 2.2.3 评价过程质量损失水平的主要指标 |
| 2.3 过程质量指标和过程能力指数的比较分析 |
| 2.3.1 综合性的过程能力指数的C_p-K 和C_p-δ表达式 |
| 2.3.2 过程质量指标和过程能力指数在二维平面的比较分析 |
| 2.4 质量评价指标体系的应用说明 |
| 第三章 面向质量目标的统计公差技术研究 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 零件层次的面向质量目标的统计公差、统计公差带及其表示方法 |
| 3.2.1 面向质量目标的统计公差带的二维界面基本参数 |
| 3.2.2 面向质量目标的统计公差及公差带表达方法 |
| 3.2.3 质量指标函数曲线形成的统计公差带表示方法 |
| 3.3 面向质量目标的与现有的统计公差及标准的对比分析 |
| 3.3.1 现有标准的统计公差几种标注方法 |
| 3.3.2 现有标准的统计公差带几种表示方法 |
| 3.3.3 两种统计公差及公差带标准的对比分析 |
| 3.4 面向质量目标的统计公差的置信区间 |
| 3.4.1 过程能力指数C_P 的置信区间及相关参数 |
| 3.4.2 过程偏移系数K 的置信区间 |
| 3.4.3 标准化偏移δ的置信区间 |
| 3.4.4 过程质量指标和面向质量目标统计公差的置信区间计算 |
| 3.5 面向质量目标的统计公差技术的应用研究 |
| 第四章 面向质量目标的统计过程控制方法研究 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 常规计量型控制图实现面向目标的过程质量控制 |
| 4.2.1 休哈特常规控制图的概述 |
| 4.2.2 常规控制图的控制中线的约束条件 |
| 4.2.3 均值－极差控制图的设计及应用流程 |
| 4.2.4 面向目标的均值－极差控制图应用案例 |
| 4.3 面向质量目标的CUSUM 控制图设计 |
| 4.3.1 累积和（CUSUM）控制图的概述 |
| 4.3.2 CUSUM 控制图的一种参数优化设计方法 |
| 4.3.3 利用CUSUM 图监控过程的均值或变差 |
| 4.4 面向质量目标的EWMA 控制图设计 |
| 4.4.1 指数加权滑动平均控制图(EWMA)的概述 |
| 4.4.2 EWMA 控制图的一种参数优化方法 |
| 4.4.3 利用EWMA 图监控过程的均值或变差 |
| 4.5 面向质量目标的统计过程控制方法的应用案例 |
| 第五章 面向质量目标的统计过程控制方法应用与系统研发 |
| 5.1 相关背景 |
| 5.2 需求分析 |
| 5.2.1 生产线现状分析 |
| 5.2.2 项目总体目标及需求 |
| 5.2.3 各子系统需求与目标 |
| 5.3 车间集成质量系统的设计 |
| 5.3.1 系统开发环境 |
| 5.3.2 系统设计原则 |
| 5.3.3 系统总体方案设计 |
| 5.3.4 系统功能结构设计 |
| 5.4 车间集成质量系统的实现 |
| 5.4.1 系统实现说明 |
| 5.4.2 加工过程稳定性的监控 |
| 5.4.3 确保预期质量指标的实现 |
| 5.4.4 应用结果分析 |
| 第六章 结论与展望 |
| 6.1 结论 |
| 6.2 展望 |
| 参考文献 |
| 附录一：涉及到的名称与参数的解释说明 |
| 附录二：统计过程质量控制图的常数表 |
| 附录三：攻读博士学位期间公开发表的论文 |
| 附录四：攻读博士学位期间参与的项目 |
| 致谢 |
（8）计入公差的随机虚拟样机三维零件生成方法研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 插图清单 |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题研究背景 |
| 1.1.1 课题来源 |
| 1.1.2 课题研究背景及意义 |
| 1.2 虚拟样机技术的国内外发展现状 |
| 1.2.1 虚拟样机技术在国外的发展应用 |
| 1.2.2 虚拟样机技术在国内的发展 |
| 1.3 计算机辅助公差设计的研究进展 |
| 1.4 本课题研究的主要目的和内容 |
| 1.4.1 主要目的 |
| 1.4.2 主要内容 |
| 第二章 系统方案设计 |
| 2.1 系统的总体设计 |
| 2.1.1 计入公差的三维模型生成系统 |
| 2.1.2 系统总体设计思想 |
| 2.1.3 计入公差的三维模型生成系统与CAE分析软件的集成 |
| 2.2 系统开发的技术方案 |
| 2.2.1 Pro/E开发方式 |
| 2.2.2 设置环境变量 |
| 2.2.3 注册COM服务器 |
| 2.2.4 VB API的引用 |
| 2.3 硬件与软件配置 |
| 2.3.1 系统的硬件配置 |
| 2.3.2 系统的软件配置 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 箱体零件三维模型生成系统 |
| 3.1 实现方法 |
| 3.2 Pro/E箱体模型数控前处理方法研究 |
| 3.2.1 箱体模型数控前处理的流程 |
| 3.2.2 Pro/E中零件尺寸和公差类型 |
| 3.2.3 零件尺寸公差的处理 |
| 3.2.4 计入公差的三维零件模型生成 |
| 3.3 箱体零件模型图 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 计入尺寸公差的随机尺寸生成系统 |
| 4.1 随机数生成算法 |
| 4.2 基础随机数 |
| 4.2.1 VB.NET提供的随机数 |
| 4.2.2 可以移植的随机数生成算法程序 |
| 4.3 不同分布随机数生成 |
| 4.3.1 均匀分布 |
| 4.3.2 标准正态分布 |
| 4.3.3 指数分布 |
| 4.3.4 变指数分布 |
| 4.3.5 瑞丽分布 |
| 4.4 随机尺寸生成系统 |
| 4.4.1 随机尺寸生成系统的流程 |
| 4.4.2 随机尺寸生成系统用户界面 |
| 4.5 本章小结 |
| 第五章 计入形位公差的零件模型生成系统 |
| 5.1 形位公差的分类 |
| 5.2 平面度公差 |
| 5.3 圆柱度公差 |
| 5.4 面轮廓度公差 |
| 5.5 形位公差三维模型生成程序 |
| 5.6 本章小结 |
| 第六章 结束语 |
| 6.1 工作总结 |
| 6.2 建议 |
| 附录 |
| 附录A:设计系统与Pro/E异步连接程序 |
| 附录B:随机尺寸生成系统 |
| 参考文献 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 |
| 致谢 |
（9）基于不同加工方法的零件配合平均盈隙性及控制（论文提纲范文）
| 0 引言 |
| 1 基于不同加工方法的零件配合特性 |
| 2“试切法”加工零件配合平均盈隙性的控制 |
| 3 结语 |
（10）统计公差技术及其在制造过程质量控制中的应用研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 目录 |
| 图表目录 |
| 1 绪论 |
| 1.1 论文研究的背景及意义 |
| 1.1.1 背景 |
| 1.1.2 研究意义 |
| 1.2 论文的理论意义和应用价值 |
| 1.2.1 论文的理论意义 |
| 1.2.2 论文研究的应用价值 |
| 1.3 国内外研究现状 |
| 1.3.1 国内研究概况 |
| 1.3.2 国外研究概况 |
| 1.3.3 发展趋势 |
| 1.4 本文的主要研究内容及解决的问题 |
| 1.5 本文的章节安排 |
| 2 面向质量目标的零件层次统计公差研究 |
| 2.1 概述 |
| 2.2 面向质量目标的制造过程质量评价参数 |
| 2.2.1 数据参数 |
| 2.2.2 过程参数 |
| 2.2.3 质量目标参数 |
| 2.3 过程能力指数及合格率的研究 |
| 2.3.1 过程能力指数概述 |
| 2.3.2 对过程质量评价指标和过程能力指数的比较分析 |
| 2.3.3 直接过程能力指数和间接过程能力指数 |
| 2.3.4 全过程能力指数 |
| 2.4 统计公差在零件图上的表达方法 |
| 2.4.1 国外标注方法 |
| 2.4.2 国内标注方法 |
| 2.5 面向质量目标的图形化动态统计公差带 |
| 2.5.1 图形化统计公差带常用的几种表示方法 |
| 2.5.2 基于C_p-k平面单质量目标的图形化统计公差带 |
| 2.5.3 基于C_p-k平面多质量目标的图形化统计公差带 |
| 2.6 图形化统计公差带在制造过程质量控制中的应用 |
| 2.7 本章小结 |
| 3 面向配合质量的统计公差技术的研究 |
| 3.1 概述 |
| 3.2 配合能力分析和配合能力指数 |
| 3.2.1 配合尺寸的实际分布和配合后的间隙或过盈的分布之间的关系 |
| 3.2.2 配合能力指数和配合偏移系数 |
| 3.2.3 配合能力分析 |
| 3.3 配合质量的评价指标的建立与标准化 |
| 3.3.1 配合质量的评价指标主要是三个指标 |
| 3.3.2 配合质量的评价指标与两个配合尺寸的过程能力指数的关系 |
| 3.4 面向配合质量目标的统计公差设计 |
| 3.4.1 配合质量目标的合理设定和统计公差设计 |
| 3.4.2 用两个配合尺寸的过程能力指数预测配合质量并改进配合质量 |
| 3.4.3 孔轴配合尺寸的协调加工 |
| 3.4.4 装配尺寸的统计参数和统计公差计算 |
| 3.5 小结 |
| 4. 面向制造过程的非正态分布统计公差研究 |
| 4.1 概述 |
| 4.2 统计公差的分析方法 |
| 4.2.1 TAYLOR级数展开法 |
| 4.2.2 TAGUCHI及其修正法 |
| 4.2.3 直接积分法 |
| 4.2.4 ROSENBLUTHE法及其改进方法 |
| 4.2.5 MONTE CARLO方法 |
| 4.3 基于BETA分布的数据处理 |
| 4.3.1 BETA分布的统计参数 |
| 4.3.2 单位贝塔分布与完全贝塔分布之间的映射关系 |
| 4.3.3 贝塔分布的累积概率及其分位数计算 |
| 4.3.4 BETA分布的参数拟合算法 |
| 4.4 非正态分布的配合质量分析 |
| 4.4.1 随机变量的和、乘积、商的分布密度 |
| 4.4.2 非线性非正态分布装配条件下合成尺寸的均值及统计公差的计算 |
| 4.4.3 基于贝塔分布的配合质量分析 |
| 4.5 基于统计公差技术的真实环境下并行质量优化 |
| 4.5.1 非正态分布的MONTE CARLO仿真 |
| 4.5.2 最优参数的确定 |
| 4.5.3 数据拟合及求解 |
| 4.5.4 应用实例 |
| 4.6 本章小结 |
| 5 基于统计公差技术的异地制造产品质量协同控制 |
| 5.1 概述 |
| 5.2 异地制造过程质量控制体系结构 |
| 5.2.1 系统的体系结构及协同控制的实现技术 |
| 5.2.2 质量协同控制器的结构及运行 |
| 5.3 基于统计公差的配合质量的协调控制 |
| 5.3.1 异地制造产品数据处理技术 |
| 5.3.2 质量协同控制方法 |
| 5.4 基于STA、SPC和EPC的集成方法质量控制 |
| 5.4.1 STA、EPC和SPC的集成体系结构 |
| 5.4.2 STA、EPC和SPC的智能集成体系结构 |
| 5.4.3 智能集成方法质量控制技术 |
| 5.4.4 集成方法在制造过程质量控制中的应用实例 |
| 5.5 本章小结 |
| 6 面向质量目标的统计公差应用实例 |
| 6.1 基于统计公差的集成化质量控制系统设计 |
| 6.1.1 系统主要功能 |
| 6.1.2 关键技术处理方法 |
| 6.1.3 系统服务器端设计实例 |
| 6.2 应用案例一——面向质量目标的封闭环尺寸制造质量的控制 |
| 6.3 应用案例二——扩展企业面向质量目标的封闭环尺寸制造质量的控制 |
| 6.4 本章小结 |
| 7 总结及展望 |
| 7.1 总结 |
| 7.2 展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 附录A 作者开发的统计函数库列表 |
| 附录B 主要符号一览表 |
| 攻读博士学位期间的主要成果 |
| 攻读博士学位期间发表的论文和出版着作情况 |
| 攻读博士学位期间已完成及在研科学研究项目情况 |
| 攻读博士学位期间学术成果获奖情况 |
四、JB/T 9184-1999《统计尺寸公差》介绍（论文参考文献）
- [1]统计公差“零件批（过程）的统计质量指标”标准介绍与分析[J]. 张宇. 机械工业标准化与质量, 2012(04)
- [2]统计公差值及其图样标注标准介绍与分析[J]. 张宇. 机械工业标准化与质量, 2012(02)
- [3]统计公差标准中术语、定义和基本概念的介绍与分析(续)[J]. 张宇. 机械工业标准化与质量, 2012(01)
- [4]统计公差标准中术语、定义和基本概念的介绍与分析[J]. 张宇. 机械工业标准化与质量, 2011(12)
- [5]统计公差系列标准简介[J]. 张宇. 机械工业标准化与质量, 2011(10)
- [6]GB/Z 24636.1～.4—2009《产品几何技术规范（GPS）统计公差》系列标准中统计公差的图样标注解析[J]. 熊焜. 机械工业标准化与质量, 2010(09)
- [7]面向质量目标的统计过程控制方法与应用研究[D]. 房纪涛. 上海大学, 2010(01)
- [8]计入公差的随机虚拟样机三维零件生成方法研究[D]. 朱长春. 郑州大学, 2010(06)
- [9]基于不同加工方法的零件配合平均盈隙性及控制[J]. 刘丽云. 煤矿机械, 2010(03)
- [10]统计公差技术及其在制造过程质量控制中的应用研究[D]. 杨慕升. 南京理工大学, 2009(02)