探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法测定银含量的影响

论文摘要

通过采用X射线荧光光谱法与电位滴定法对不同处理工艺的银合金进行检测,探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法检测银合金的影响,以确认X射线荧光光谱法在银饰品上的应用。经实验分析表明,X射线荧光光谱法在开展不同工艺银合金的检测时,其检测结果受镀层厚度与镀层组分影响,甚至会造成误判,但通过打磨处理可消除其影响。

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类型: 期刊论文

作者: 周泽熙,梁锡海

关键词: 射线荧光光谱法,镀层,银饰品

来源: 中国检验检测 2019年06期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑

专业: 化学,轻工业手工业

单位: 广东顺德周大福珠宝制造有限公司

分类号: TS934.3;O657.34

DOI: 10.16428/j.cnki.cn10-1469/tb.2019.06.003

页码: 8-11

总页数: 4

文件大小: 276K

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标签：射线荧光光谱法论文;  镀层论文;  银饰品论文;