射频反应磁控溅射生长ZAO薄膜的光电性质

射频反应磁控溅射生长ZAO薄膜的光电性质

论文摘要

采用RF反应磁控溅射技术在不同制备条件下制备了Al掺杂ZnO薄膜(ZAO),研究了不同条件下ZAO薄膜的光电性质。结果表明,薄膜电阻主要由晶界电阻决定,且导电性随Ar∶O2中O2含量增加而减小。薄膜具有强烈的紫外吸收特性,带隙大多超过3.3 eV,可见光区的透明性大于80%,并且透过率和Eg随Ar∶O2中O2含量的增加而增加,薄膜在紫光区域具有较强的光致发光特性,掺铝使光发射峰增强并蓝移。

论文目录

  • 0 引 言
  • 1 ZAO薄膜制备
  • 2 实验设计与结果分析
  •   2.1 Ar与O2流量比对ZAO薄膜电学性质影响
  •     (1) I-U特性。
  •     (2) 薄膜表面电阻分析。
  •     (3) ZAO薄膜的阻抗谱分析。
  •   2.2 不同衬底温度和溅射时间对ZAO薄膜电学性质的影响
  •     (1) 不同衬底温度下生长ZAO薄膜I-U特性曲线。
  •     (2) 不同溅射时间下生长ZAO薄膜的I-U特性曲线。
  •   2.3 不同Ar∶O2生长ZAO薄膜的光吸收特性
  •   2.4 不同衬底温度下生长ZAO薄膜的光吸收特性
  •   2.5 RF反应磁控溅射ZAO薄膜的PL谱
  • 3 结 语
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 许飞,朱江转,陆慧,罗锻斌,谢海芬

    关键词: 薄膜,磁控溅射,基底温度,光电性质

    来源: 实验室研究与探索 2019年11期

    年度: 2019

    分类: 基础科学,工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑

    专业: 材料科学,工业通用技术及设备

    单位: 华东理工大学理学院

    基金: 2018年度本科实验实践教学改革与建设立项(BK0121004)

    分类号: TB383.2

    页码: 46-50

    总页数: 5

    文件大小: 1091K

    下载量: 72

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