论文摘要
针对ICP-OES法测定TA19钛合金中锡含量时的4条分析谱线Sn 242.950nm、Sn 242.170nm、Sn 235.485nm、Sn 189.925nm的灵敏度、受干扰状况、校准曲线线性、检出限、精密度和准确度进行了比较探究。结果表明,4条谱线的灵敏度均能满足测定要求,所受基体和合金成分的干扰均可消除,校准曲线线性相关系数均为0.9999,检出限均小于0.05%,测定结果的相对标准偏差在0.44%～0.81%之间,加标回收率在98.0%～98.7%之间。相比较Sn 189.925nm谱线的检出限和测定下限最优,精密度和准确度最好。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 罗枫,姜超,王刚伟,李婷
关键词: 电感耦合等离子体光谱法,钛合金,锡含量,分析谱线
来源: 化学工程师 2019年09期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅰ辑
专业: 化学,金属学及金属工艺
单位: 宝鸡钛谷新材料检测技术中心有限公司
分类号: TG146.23;O657.3
DOI: 10.16247/j.cnki.23-1171/tq.20190940
页码: 40-43
总页数: 4
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标签：电感耦合等离子体光谱法论文; 钛合金论文; 锡含量论文; 分析谱线论文;