论文摘要
探讨了电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定镍板中钴的分析条件。试样经过硝酸、盐酸溶解,采用ICP-AES测定钴含量,镍的背景干扰采用背景校正扣除。确定了仪器的最佳分析条件,选择钴的分析谱线为228.616nm。该法已用于镍板样品中钴的测定,以钴标准溶液绘制工作曲线,测定结果的相对标准偏差（n=7）小于3%,加标回收率98%～101%。
论文目录
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 李敏,涂昀,傅凯文,邹健
关键词: 原子光谱法,镍板
来源: 中国高新科技 2019年16期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑
专业: 化学,金属学及金属工艺,机械工业
单位: 新余钢铁股份有限公司检测中心
分类号: TG146.15;O657.31
DOI: 10.13535/j.cnki.10-1507/n.2019.16.36
页码: 96-97
总页数: 2
文件大小: 1483K
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