导读:本文包含了地址译码器论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:译码器,地址,存储器,器件,存贮器,故障,测试。
地址译码器论文文献综述
刘艳[1]（2002）在《SRAM中新型结构的灵敏放大器及地址译码器的设计》一文中研究指出自本世纪50年代晶体管诞生以来，微电子技术发展异常迅速，目前已进入甚大规模集成电路和系统集成时代，微电子已经成了整个信息技术和产业的基础，也是一个国家综合国力的重要标志。可以毫不夸张地说，没有微电子就没有今天的信息社会。现在，电子信息产业已经成为世界第一产业，毫无疑义，21世纪的微电子技术将得到高速发展。在微电子这一大家庭中，半导体存储器是一类典型的微电子产品。在随机存取存储器中，除了动态存储器(DRAM)外，静态存储器(SRAM)由于其自身的低功耗和高速的优势而成为半导体存储器中不可或缺的一类重要产品。随着工艺水平的不断提高，器件特征尺寸不断减小，从而使得SRAM在容量不断增大的同时性能也在不断改善。目前在计算机、通讯和消费类电子产品中的应用越来越广泛，越来越普遍。 本文首先概述了半导体存储器的发展，阐述了SRAM的结构和工作原理，详细分析比较了SRAM外围电路中的灵敏放大器和地址译码器的几种结构和性能特点，在此基础上，着重论述了一种用于3.3V全CMOS 16Kb SRAM中新型结构的灵敏放大器及地址译码器的设计，并用CSMC(无锡上华半导体制造公司)0.6μm CMOS工艺模型，在不同的工作条件下对所设计的电路进行仿真和结构优化，同时将其放入整个SRAM中进行不同条件下的仿真，仿真结果表明所设计的新型结构的灵敏放大器和地址译码器均能在SRAM中正常工作，满足设计要求。(本文来源于《合肥工业大学》期刊2002-01-01）
刘建都,张安堂[2]（2000）在《CMOS存储器中地址译码器的开路故障及测试》一文中研究指出对 CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类 ,得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出 ,给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案(本文来源于《空军工程大学学报(自然科学版)》期刊2000年02期）
刘建都[3]（1999）在《CMOS存储器中地址译码器的开路故障及其测试》一文中研究指出CMOS存储器中地址译码器的开路故障不能被常用的推进测试算法可靠地测试出。本文首先对CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类，得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出，然后给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案。(本文来源于《微电子技术》期刊1999年05期）
郭显久[4]（1997）在《用GAL器件设计地址译码器的新方法》一文中研究指出本文采用数码比较器的原理给出用ＧＡＬ器件设计任意地址范围译玛器的新方法。在该方法中，提出了叁个规则，利用这叁个规则可以迅速简便地写出设计所需的地址译码器的逻辑表达式。这种方法对于使用ＦＭ汇编软件的用户非常实用，也可以用于软件编程。(本文来源于《计算机应用研究》期刊1997年01期）
许昌,金荣泰,胡博[5]（1993）在《用于GAL器件的地址译码器设计方法》一文中研究指出本文采用数字比较器的方法,设计任意范围大小的地址译码器。根据地址区的数值范围,直接写出逻辑方程。化简之后,结果易于验证,便于用GAL器件来实现。文中给出了一个8098单片应用系统地址译码器设计的例子。(本文来源于《电子技术》期刊1993年12期）
地址译码器论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
对 CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类 ,得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出 ,给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
地址译码器论文参考文献
[1].刘艳.SRAM中新型结构的灵敏放大器及地址译码器的设计[D].合肥工业大学.2002
[2].刘建都,张安堂.CMOS存储器中地址译码器的开路故障及测试[J].空军工程大学学报(自然科学版).2000
[3].刘建都.CMOS存储器中地址译码器的开路故障及其测试[J].微电子技术.1999
[4].郭显久.用GAL器件设计地址译码器的新方法[J].计算机应用研究.1997
[5].许昌,金荣泰,胡博.用于GAL器件的地址译码器设计方法[J].电子技术.1993
论文知识图
