一种可溯源原子力探针显微镜

一种可溯源原子力探针显微镜

论文摘要

研制了一种基于白光干涉的可溯源原子力探针扫描显微镜,提出了一种稳健的白光干涉零级条纹定位算法,建立了一套高分辨激光干涉位移测量系统。在此基础上提出了一种探针标定方法,实现微纳表面可溯源测量。通过对台阶高度为(21. 4±1. 5) nm的标准光栅进行10次重复测量,其结果的平均值为21. 56 nm,标准差为0. 51 nm;同时对高度为150 nm的三维特征样件进行了三维测量,验证了所研制仪器测量的准确性和稳定性。

论文目录

  • 1 引言
  • 2 测量原理
  • 3 系统建立
  •   3.1 零级条纹定位算法
  •     3.1.1 干涉信号预处理
  •     3.1.2 零级条纹定位
  •   3.2 高分辨位移测量系统
  •   3.3 标定方法
  • 4 实验
  • 5 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 杨文军,胡迟,刘晓军

    关键词: 计量学,原子力显微镜,探针标定,可溯源,白光干涉

    来源: 计量学报 2019年02期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑

    专业: 仪器仪表工业

    单位: 华中科技大学机械科学与工程学院

    基金: 国家自然科学基金(51475192)

    分类号: TH742

    页码: 183-188

    总页数: 6

    文件大小: 1012K

    下载量: 109

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