OLED屏幕端部金属走线/蚀刻层弯折行为仿真研究

论文摘要

OLED（Organic Light-Emitting Diode）具有视角广、轻薄、可实现柔性、色域宽以及耐冲击等特性而受到广泛关注,高屏占比的OLED面板逐渐成为智能手机屏幕发展的主要方向。然而,为了追求更高的OLED屏幕屏占比,一般采用将面板端部非显示区的金属走线/蚀刻层结构向背面弯折的方法。在这一过程中,端部的金属走线容易残余应力过大或发生断裂,从而使面板显示出现问题,导致屏占比高的OLED屏幕良率较低。本文针对OLED端部的金属走线/蚀刻层结构进行建模、对金属走线的弯折力学行为以及断裂性能等展开研究,为OLED面板端部弯折工艺提出合理的优化建议。主要内容包括:（1）根据OLED端部细观结构,建立了金属走线/蚀刻层模型,引入了周期性边界条件和基于整体模型的特殊边界条件,分析了不同金属走线结构、材质层厚度以及衬底材料等对金属走线应力分布的影响。（2）基于复合材料界面裂纹偏转与穿透理论和虚拟裂纹闭合法,运用有限元软件建立了金属走线裂纹偏转渗透模型,分析了裂纹在金属走线/蚀刻层界面的扩展形式,并且基于扩展有限元的围线积分法,研究了开孔对于金属走线裂尖前端应力强度因子的影响。（3）基于分析三维裂纹的扩展有限元法,模拟了金属走线/蚀刻层结构中三维裂纹的扩展过程,探讨了衬底材料以及开孔直径对于金属走线/蚀刻层结构断裂性能的影响。本文主要针对OLED端部金属走线/蚀刻层结构的弯折力学行为以及断裂性能进行了仿真研究,所取得的成果为设计人员对OLED面板的端部弯折成形提供参考,具有重要的实际应用意义。

论文目录

文章来源

类型: 硕士论文

作者: 张博

导师: 廖敦明

关键词: 有机发光二极管,手机屏幕,金属走线,蚀刻层,弯折,断裂

来源: 华中科技大学

年度: 2019

分类: 基础科学,信息科技

专业: 力学,电信技术

单位: 华中科技大学

分类号: O346.1;TN873.93

总页数: 87

文件大小: 5395K

下载量: 116

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