导读:本文包含了红外透射谱论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:外延,薄膜,平面波,分光镜,液相,偏振,基线。
红外透射谱论文文献综述
李明宇,顾培夫,张锦龙,马欣,郑臻荣[1]（2008）在《红外区二维光子晶体偏振分光镜透射谱分析》一文中研究指出采用时域有限差分(Finite-Difference Time-Domain,FDTD)法模拟了垂直入射红外波段二维光子晶体偏振分光镜的透射谱,从而验证了用平面波展开方法计算的二维光子晶体能带结构.用电子束蒸发方法在光栅基板上制备了Ge/BaF2多层膜,实现了二维光子晶体偏振分光镜.实验初步证明了这种光子晶体在垂直入射时具有偏振特性,分析了实验结果与理论计算之间偏差的产生原因.(本文来源于《光子学报》期刊2008年01期）
胡跃辉,陈光华,吴越颖,阴生毅,高卓[2]（2004）在《氢化非晶硅薄膜红外透射谱与氢含量》一文中研究指出研究了用氢化非晶硅薄膜红外透射谱的摇摆模和伸缩模计算氢含量的两种方法, 分析了这两种方法在计算薄膜氢含量时引起差别的原因. 理论推导及实验结果表明, 若将SiH2和(SiH2)n含量大小用结构因子F=(I840+I880)/I2000来表示, 则在F值较小的情况下, 薄膜折射率接近3.4或拟合厚度值d=0.71~0.89 mm时, 两种计算方法得到的氢含量很接近. 研究还发现, 制备工艺对薄膜的键结构及组分有很大的影响, 不同的制备方法薄膜中形成的SiH2和(SiH2)n含量不同, F值大的样品均匀性差(表现为这些样品实测厚度值与拟合厚度值有较大的差异); 同时在这种情况下, 两种方法计算得到它们的氢含量值相差较大, 但CAT CVD辅助MWECR CVD制备方法, 能有效地抑制SiH2和(SiH2)n的形成.(本文来源于《中国科学G辑:物理学、力学、天文学》期刊2004年03期）
褚君浩,李标,刘坤,汤定元[3]（1996）在《用室温红外透射谱研究Hg_（1－x）Cd_xTe外延薄膜的组份分布》一文中研究指出根据Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ本征吸收系数的经验公式及Ｈｏｕｇｅｎ模型，建立了一种用室温红外透射谱研究Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ外延薄膜组份均匀性的方法，用这种方法检测了ＬＰＥ、ＭＢＥ、ＭＯＣＶＤ薄膜的组份分布，并与二次离子质谱（ＳＩＭＳ）测量结果进行了比较(本文来源于《红外与毫米波学报》期刊1996年02期）
刘达清,陶长远,陶[4]（1994）在《Hg_(1-X)Cd_xTe液相外延层室温红外透射谱分析》一文中研究指出首次系统、深入地探讨了Ｈｇ（１－Ｘ）ＣｄｘＴｅ液相外延层的界面结构、组分分布对其室温红外透射谱诸项和吸收边的影响，详细分析了“假生长”的特征、形成机理及严重危害。(本文来源于《半导体光电》期刊1994年03期）
刘达清,陶长远[5]（1993）在《碲镉汞液相外延层室温红外透射谱顶上翘》一文中研究指出本文首次报道Hg_(1-x)Cd_xTe液相外延生长终止后,由于Hg浅扩散和Cd从表面挥发造成外延层上表Hg含量上升而Cd含量下降,组分分布很不均匀。当这一表层达到一定厚度时将导致室温红外透射谱顶后尾向长波方向上翘。表层组分变异程度及“谱顶上翘”位置、陡缓的决定因素是外延层组分、晶体质量和终止生长后降温过程的条件。具有室温红外透射谱顶上翘的Hg_(1-x)Cd_xTe液相外延层不能用于制作探测器件。(本文来源于《红外与激光技术》期刊1993年06期）
龚海梅,查茵,方家熊[6]（1993）在《氢钝化对Hg_(1-x)Cd_xTe红外透射谱的影响》一文中研究指出采用红外透射测量观测了氢钝化对Hg_(1-x)Cd_xTe晶片的影响,用分层模型计算了晶片透射率,分析了氢钝化增加其透射率、吸收边向短波方向移动、低于禁带宽度能量的吸收降低、透过范围减小的原因。表明氢钝化不仅影响到表面,而且影响到整个体内。原因是经氢钝化处理后杂质或缺陷受到有效钝化,载流子浓度降低,组分x增加;荷电杂质或缺陷的局域内场影响发失变化;以及荷电杂质或缺陷散射增强。(本文来源于《红外与毫米波学报》期刊1993年05期）
史智盛,陈伟立,宋航,于宝贵,傅义[7]（1991）在《分子束外延Pb_(1-x)Eu_xTe材料的红外透射谱研究》一文中研究指出在2.5～25μm范围内测量了分子束外延(MBE)Pb_(1-x)Eu_xTe薄膜材料(x=0,0.011,0.032,0.045)的室温红外透射谱,得到了折射率的色散关系及禁带宽度与组份x的关系,首次报道了禁带宽度与光学介电常数的经验公式,讨论了本文结果与其它报道的不同之处。(本文来源于《红外与毫米波学报》期刊1991年02期）
章荣根,张守业,张志良,任以莉[8]（1991）在《近红外付里叶变换光谱仪与稀土铁柘榴石单晶透射谱》一文中研究指出考虑到近红外波段测量的需要,我们将FB—1型可见光范围付里叶变换光谱仪扩展使用到近红外波段,并用此谱仪对磁光柘榴石YIG、BiCaVIG、Bi—YIG、GdBiIG等单晶在1.0～2.5μm范围的室温透射谱进行了测量。结果表明GdBiIG晶体在近红外波段具有最好的透射率。最后在改装后的近红外付里叶变换光谱仪上做了有机物结构分析和试样含水量分析并作了讨论。(本文来源于《浙江大学学报(自然科学版)》期刊1991年01期）
李国华,李继仲[9]（1991）在《冰洲石红外偏光透射谱测量及其应用》一文中研究指出红外偏光光谱测量是对红外晶体材料进行光谱分析的一种重要方法,本文对冰洲石晶体的红外偏光透射性能进行了研究,得到了2.5-5μ真的o、e光透射谱。对冰洲石晶体二向色特性的成因,样品制备原理及测量方法作了介绍,对制作中红外冰洲石偏光镜的可行性进行了分析。(本文来源于《光谱学与光谱分析》期刊1991年01期）
红外透射谱论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
研究了用氢化非晶硅薄膜红外透射谱的摇摆模和伸缩模计算氢含量的两种方法, 分析了这两种方法在计算薄膜氢含量时引起差别的原因. 理论推导及实验结果表明, 若将SiH2和(SiH2)n含量大小用结构因子F=(I840+I880)/I2000来表示, 则在F值较小的情况下, 薄膜折射率接近3.4或拟合厚度值d=0.71~0.89 mm时, 两种计算方法得到的氢含量很接近. 研究还发现, 制备工艺对薄膜的键结构及组分有很大的影响, 不同的制备方法薄膜中形成的SiH2和(SiH2)n含量不同, F值大的样品均匀性差(表现为这些样品实测厚度值与拟合厚度值有较大的差异); 同时在这种情况下, 两种方法计算得到它们的氢含量值相差较大, 但CAT CVD辅助MWECR CVD制备方法, 能有效地抑制SiH2和(SiH2)n的形成.
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
红外透射谱论文参考文献
[1].李明宇,顾培夫,张锦龙,马欣,郑臻荣.红外区二维光子晶体偏振分光镜透射谱分析[J].光子学报.2008
[2].胡跃辉,陈光华,吴越颖,阴生毅,高卓.氢化非晶硅薄膜红外透射谱与氢含量[J].中国科学G辑:物理学、力学、天文学.2004
[3].褚君浩,李标,刘坤,汤定元.用室温红外透射谱研究Hg_（1－x）Cd_xTe外延薄膜的组份分布[J].红外与毫米波学报.1996
[4].刘达清,陶长远,陶.Hg_(1-X)Cd_xTe液相外延层室温红外透射谱分析[J].半导体光电.1994
[5].刘达清,陶长远.碲镉汞液相外延层室温红外透射谱顶上翘[J].红外与激光技术.1993
[6].龚海梅,查茵,方家熊.氢钝化对Hg_(1-x)Cd_xTe红外透射谱的影响[J].红外与毫米波学报.1993
[7].史智盛,陈伟立,宋航,于宝贵,傅义.分子束外延Pb_(1-x)Eu_xTe材料的红外透射谱研究[J].红外与毫米波学报.1991
[8].章荣根,张守业,张志良,任以莉.近红外付里叶变换光谱仪与稀土铁柘榴石单晶透射谱[J].浙江大学学报(自然科学版).1991
[9].李国华,李继仲.冰洲石红外偏光透射谱测量及其应用[J].光谱学与光谱分析.1991
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