导读:本文包含了反常磁滞回线论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:反常克尔回线,磁化反转,GdFeCo,泵浦-探测
反常磁滞回线论文文献综述
徐初东,陈如麒,朱贵文,熊万杰[1]（2013）在《GdFeCo磁光薄膜飞秒激光感应反常磁滞回线研究》一文中研究指出该文使用飞秒时间分辨泵浦-探测磁光克尔光谱技术,研究了飞秒激光加热GdFeCo磁光薄膜跨越铁磁补偿温度时,净磁矩方向发生转变而引起磁化反转的反常克尔磁滞回线。通过测量不同激发功率下以及不同泵浦脉冲数下的反常克尔回线,揭示反常回线包含连续脉冲激发产生的积累效应以及外场磁化史的记忆效应,对反常回线的形成起源做了深入探索和详细研究。研究结果对于深入理解GdFeCo合金薄膜中稀土-过渡金属间的反铁磁耦合特性以及磁化反转的机理具有重要意义。(本文来源于《中山大学学报(自然科学版)》期刊2013年05期）
周卓作,杨晓非,李震,董凯锋[2]（2011）在《基于反常霍尔效应的薄膜磁滞回线测量系统的原理与设计》一文中研究指出随着制备工艺和要求的提高,磁性薄膜样品的厚度越来越薄,采用传统的测量方法难以准确测量其磁滞回线。本文探讨反常霍尔效应产生原理,提出了一种新的磁滞回线测量方法,以反常霍尔效应所产生的反常霍尔电压与薄膜样品的磁化强度成正比为测量原理,采用四探针测量方式,在薄膜样品表面水平通以恒定电流后,测量其垂直方向的反常霍尔电压,从而最终绘制样品的磁滞回线。大量实验表明,该测量方法稳定可靠,精度较高,符合测量要求。(本文来源于《磁性材料及器件》期刊2011年02期）
周卓作[3]（2011）在《基于反常霍尔效应的薄膜磁滞回线测量系统的研究》一文中研究指出磁性薄膜的应用越来越广泛,使得人们更加关注薄膜的磁性能表征。在磁性薄膜的很多应用中,其薄膜的厚度变得越来越薄,使得薄膜磁特性参数的测量变得越来越困难。本文首先针对传统测量方法在测量膜厚很薄样品时的困难,研究了基于反常霍尔效应的测量方法。在硬件方面,研究和设计了总体方案,其中,采用基于PCI总线的数据采集卡完成磁场数据的获取和传送,采用高精度电流源和纳伏表获取反常霍尔电压数据,通过GPIB接口传送。在软件方面,选用LabView虚拟仪器编程平台,研究和设计了数据实时滤波、曲线调理和特征参数提取算法等。实测结果表明,设计和搭建的基于反常霍尔效应的薄膜磁滞回线测量系统能高效的进行数据采样、数据显示、数据处理和特征参数提取。本文还对测试系统的误差进行了详细的分析,从硬件和软件两方面着手,研究和分析了影响系统测量精度的原因。实验结果表明,测试样品的放置角度和测试点位置等均对测试结果有明显影响,在分析的基础上,提出了提高测试精度的方法。理论分析和实测结果均表明,对于厚度很薄的薄膜磁滞回线的测量,相对于传统技术,基于反常霍尔效应的测量方法具有显着优势。(本文来源于《华中科技大学》期刊2011-01-01）
反常磁滞回线论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
随着制备工艺和要求的提高,磁性薄膜样品的厚度越来越薄,采用传统的测量方法难以准确测量其磁滞回线。本文探讨反常霍尔效应产生原理,提出了一种新的磁滞回线测量方法,以反常霍尔效应所产生的反常霍尔电压与薄膜样品的磁化强度成正比为测量原理,采用四探针测量方式,在薄膜样品表面水平通以恒定电流后,测量其垂直方向的反常霍尔电压,从而最终绘制样品的磁滞回线。大量实验表明,该测量方法稳定可靠,精度较高,符合测量要求。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
反常磁滞回线论文参考文献
[1].徐初东,陈如麒,朱贵文,熊万杰.GdFeCo磁光薄膜飞秒激光感应反常磁滞回线研究[J].中山大学学报(自然科学版).2013
[2].周卓作,杨晓非,李震,董凯锋.基于反常霍尔效应的薄膜磁滞回线测量系统的原理与设计[J].磁性材料及器件.2011
[3].周卓作.基于反常霍尔效应的薄膜磁滞回线测量系统的研究[D].华中科技大学.2011