论文摘要
本研究通过对普通压电晶片和还原压电晶片的性能进行相应测试方法的比对,分别对钽酸锂晶片和铌酸锂晶片电导率,居里温度,放电性能的测试结果进行分析对比,并且对普通晶片和还原片的性能进行对比分析研究,结果表明还原晶片的压电性能优于普通晶片。
论文目录
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 林震,张俊,杨宜,罗俊
关键词: 压电晶片,热释电性能,还原反应
来源: 山东化工 2019年04期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅰ辑
专业: 化学
单位: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
分类号: O73
DOI: 10.19319/j.cnki.issn.1008-021x.2019.04.030
页码: 80-82
总页数: 3
文件大小: 228K
下载量: 29
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