论文摘要
对于不同工作模式下的绝缘栅双极晶体管(IGBT)的热退化特性进行研究。首先设计模块动态测试实验,实时监测退化数据,同时应用瞬态双界面法间隔性地测量热阻的退化情况。根据实验结果,从失效机理方面分析退化条件和各层材料的退化情况之间的关系。同时以有限元分析方法作为辅助手段,验证了实验测量的有效性,且更加直观地得到在不同边界条件下IGBT的热模型。研究结果表明,温度波动对于模块退化特性的影响要远高于温度和开关频率对模块造成的影响。较高的频率对于模块的影响主要在芯片内部,而温度波动对于模块的影响主要在包装级别。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 刘向向,李志刚,姚芳
关键词: 瞬态双界面法,结构函数,时间常数谱,退化
来源: 电工技术学报 2019年S2期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅱ辑,信息科技
专业: 无线电电子学
单位: 河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室
基金: 国家科技支撑计划(2015BAA09B01),国家自然科技基金(51377044),河北省自然科学基金(E2017202284),河北省教育厅青年基金(QN2017316)资助项目
分类号: TN322.8
DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.L80413
页码: 509-517
总页数: 9
文件大小: 3588K
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