论文摘要
ITO薄膜是一类被广泛应用的透明导电氧化物薄膜材料,也是稀磁半导体材料的候选之一。用MEVVA源在ITO薄膜中注入Fe离子,样品经快速热退火处理后,GAXRD分析注入的Fe离子掺入进了ITO晶格中,样品中没有发现Fe纳米团簇及氧化物等杂质相,但由于离子轰击,样品的结晶性变差,光透射率降低; Fe离子注入后,随着氧空位浓度降低,以及杂质散射增强,样品的电学性能降低,但由于Fe离子间通过氧空位形成了Fe-VO-Fe铁磁耦合对,促进了样品室温铁磁性的增强。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 王佳伟,罗凤凤
关键词: 薄膜,离子注入,室温铁磁性
来源: 江西科学 2019年01期
年度: 2019
分类: 基础科学,工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑
专业: 材料科学,工业通用技术及设备
单位: 江西省科学院应用物理研究所
基金: 江西省重点研发计划项目(20181BBH80006),江西省自然科学基金项目(20161BAB211030)
分类号: TB383.2
DOI: 10.13990/j.issn1001-3679.2019.01.003
页码: 17-20+25
总页数: 5
文件大小: 213K
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