蒙特卡罗法模拟γ谱仪无源效率刻度

蒙特卡罗法模拟γ谱仪无源效率刻度

论文摘要

介绍了蒙特卡罗模拟和分析计算相结合对γ谱仪进行无源效率刻度的方法。针对点源情况下不同探测器厚度、半径及源探距等几何条件,以及不同面源半径的面源,以蒙特卡罗模拟获得γ谱仪无源效率刻度效率数据作为基准,结合插值法和积分计算,从而实现无源效率刻度。并初步编写了一套与该方法配套无源效率刻度软件。将软件计算结果与蒙特卡罗模拟结果比较,最大相对误差为9.1%。

论文目录

  • 1 蒙特卡罗模拟建立基础数据库
  •   1.1 建立NaI探测器的效率基础数据库
  •   1.2 建立HPGe探测器的效率基础数据库
  • 2 效率数值计算原理
  • 3 结果与讨论
  •   3.1 点源,不同能量射线
  •   3.2 点源,不同探测器厚度
  •   3.3 点源,不同探测器半径
  •   3.4 点源,不同同心轴源探距高度
  •   3.5 点源,不同偏角
  •   3.6 面源,不同面源半径
  • 4 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 姚剑锋,马英杰,刘易鑫

    关键词: 无源效率刻度,能谱测量,蒙特卡罗模拟,探测效率

    来源: 核电子学与探测技术 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑

    专业: 核科学技术

    单位: 成都理工大学核技术与自动化工程学院

    基金: 国家重点研发计划重点专项(No.2016YF-C1402505),国家自然科学基金(No.11475036)资助

    分类号: TL817.2

    页码: 387-392

    总页数: 6

    文件大小: 981K

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