论文摘要
介绍了蒙特卡罗模拟和分析计算相结合对γ谱仪进行无源效率刻度的方法。针对点源情况下不同探测器厚度、半径及源探距等几何条件,以及不同面源半径的面源,以蒙特卡罗模拟获得γ谱仪无源效率刻度效率数据作为基准,结合插值法和积分计算,从而实现无源效率刻度。并初步编写了一套与该方法配套无源效率刻度软件。将软件计算结果与蒙特卡罗模拟结果比较,最大相对误差为9.1%。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 姚剑锋,马英杰,刘易鑫
关键词: 无源效率刻度,能谱测量,蒙特卡罗模拟,探测效率
来源: 核电子学与探测技术 2019年04期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅱ辑
专业: 核科学技术
单位: 成都理工大学核技术与自动化工程学院
基金: 国家重点研发计划重点专项(No.2016YF-C1402505),国家自然科学基金(No.11475036)资助
分类号: TL817.2
页码: 387-392
总页数: 6
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