论文摘要
采用溶剂热和常压合成方法,分别制备MOF-508 (Zn(BDC)(4,4’-Bipy)0.5DMF(H2O)0.5)粉末样品及其在Si、Au/Si、COOH-Au/Si基底上的薄膜,通过X射线广角衍射法检测其在基底表面上的取向生长。发现仅在常压法下COOH-Au/Si基底上MOF-508配位聚合物沿着[001]方向生长,用电子扫描电镜技术发现其在COOH-Au/Si基底上的晶体形状统一,多为长方形,说明常压法和基底对其取向生长起到关键性的因素,这对于以后配合物薄膜取向生长提供了参考数据。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 齐悦,杨洁,王春霞
关键词: 配位聚合物薄膜,溶剂热,常压法,取向生长,射线广角衍射
来源: 实验技术与管理 2019年06期
年度: 2019
分类: 基础科学,工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑
专业: 材料科学,工业通用技术及设备
单位: 四川大学化学学院基础化学实验教学中心
基金: 国家自然科学基金项目(51502181),四川大学新世纪高等教育改革工程(第八期)研究项目(SCU8156),四川大学研究生课程建设项目(2018KCJS011)
分类号: TB383.2
DOI: 10.16791/j.cnki.sjg.2019.06.015
页码: 69-71+75
总页数: 4
文件大小: 1636K
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