平面近场诊断在相控阵天线通道幅相性能测试中的应用

平面近场诊断在相控阵天线通道幅相性能测试中的应用

论文摘要

传统的平面近场诊断在通道测试时由于互耦,得到的检测值为所有通道叠加的结果,不利于单个通道信息的提取。为了去除互耦,提出了矢量旋转和近场口面诊断相结合的方法,理论上能实现对相控天线单个单元的幅度相位的检测。对该方法进行误差分析,得到了各个误差源对该方法的影响大小。通过实验验证,证明了该方法有效地减小了互耦影响,能提取单个通道的近场、远场信息,并能为相控阵天线通道校准和故障检测提供有效的手段。

论文目录

  • 1 引 言
  • 2 近场口面诊断原理
  • 3 矢量旋转与近场诊断相结合的综合检测方法
  • 4 误差分析
  •   4.1 测试截断误差
  •   4.2 电缆幅度和相位变化
  •   4.3 Z向非平面度影响
  •   4.4 扫描面距离误差
  •   4.5 耦合和多径
  •   4.6 移相器幅度、相位误差
  •   4.7 总误差
  • 5 近场诊断和矢量旋转法综合应用验证情况
  • 6 结束语
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 杨顺平,朱晓林

    关键词: 相控阵天线,幅相性能测试,平面近场诊断,矢量旋转

    来源: 电讯技术 2019年12期

    年度: 2019

    分类: 信息科技

    专业: 电信技术

    单位: 中国西南电子技术研究所

    分类号: TN821.8

    页码: 1477-1480

    总页数: 4

    文件大小: 1839K

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