论文摘要
设备测试性设计的目标是对设备进行性能监测、故障检测、故障隔离、虚警抑制等,使设备能及时、准确地反应其状态信息,其中BIT设计是目前设备测试性设计的主要内容。本文主要介绍了系统测试性设计方法及某设备典型功能电路BIT设计原理,为设备在研制阶段的测试性设计提供参考。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 孙思琦,王春辉,吴栋,雷东鹏
关键词: 测试性设计,诊断设计,设计,虚警
来源: 环境技术 2019年S2期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑
专业: 武器工业与军事技术
单位: 工业和信息化部电子第五研究所,广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室
分类号: TJ02
页码: 70-74+88
总页数: 6
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