导读:本文包含了测试响应压缩论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:测试数据压缩,响应填充,极性取反,游程编码
测试响应压缩论文文献综述
孙艳[1]（2015）在《基于测试响应填充技术的测试数据压缩方法研究》一文中研究指出近几十年来,随着超大规模集成(VLSI)电路技术发展的突飞猛进,半导体芯片上晶体管的密度成指数倍增加,数字集成电路(IC)测试已然成为半导体工业中最大的挑战之一。测试数据量也随之迅猛增长,对自动测试设备(ATE)的存储带来了巨大的压力,延长了测试应用时间,降低了测试质量,增加了测试成本。如何有效地减少测试数据量已成为集成电路测试研究的一个重点问题,本文正是围绕测试数据压缩问题开展的研究。为了进一步提高测试质量和测试压缩率,本文提出了一种基于响应填充和触发器极性取反的FDR压缩方法。首先,采用响应填充技术用上一个测试向量的响应填充测试向量中无关位,增加填充的随机性,保证较高测试质量。其次,将测试向量与上一个测试向量的响应差分处理以增加0的个数。然后,采用触发器极性取反技术更改扫描触发器的极性,进一步增大差分向量集中0的比例,以提高FDR编码的压缩率。最后,用贪心算法对测试集重排序,并用禁忌搜索算法来确定每个扫描触发器的极性,降低测试响应与下一个测试向量之间不同的位数,使得用FDR编码的压缩率最大。在硬件实现上,扫描单元极性取反可以通过其扫描输入端直接连在它前面扫描单元的Q′端实现,没有额外的硬件开销。将响应填充方案应用到FDR压缩编码方法中,提高了测试压缩率和测试质量。本文尝试将响应填充方案应用到改进的FDR方法中,比如EFDR和AFDR,提出了基于响应填充和游程编码的高测试质量压缩方法。首先本文针对EFDR和AFDR编码特点提出了不同的无关位响应填充方案,将测试向量与上一测试向量的测试响应进行差分,用不同无关位填充方式填充X,提高了X填充的随机性,进而提高测试质量。其次,使用最小跳变原则确定测试向量的顺序,增加了测试向量中游程的长度。最后,利用不同的游程编码方法例如EFDR和AFDR等对差分向量集压缩,可以获得更高的测试压缩率。本文对以上提出的两种方法都进行了仿真实验,结果表明两种方案都能取得较好的压缩效果和较高的测试质量。(本文来源于《湖南大学》期刊2015-05-05）
顾婉玉,梁华国,徐叁子,陈田,王伟[2]（2010）在《一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法》一文中研究指出提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,进一步增加被编码测试向量中的无关位;降低了线性反馈移位寄存器中编码种子的度数,最终达到压缩测试数据的目的.该方案不增加额外的测试向量,解压电路简单,仅需一个LFSR和简单的控制逻辑.(本文来源于《第六届中国测试学术会议论文集》期刊2010-07-24）
顾婉玉,梁华国,徐叁子[3]（2010）在《一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法》一文中研究指出提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,进一步增加被编码测试向量中的无关位;降低了线性反馈移位寄存器中编码种子的度数,最终达到压缩测试数据的目的.该方案不增加额外的测试向量,解压电路简单,仅需一个LFSR和简单的控制逻辑.(本文来源于《计算机研究与发展》期刊2010年S1期）
周德新,李博,樊智勇,王凯[4]（2009）在《AMU故障检测中测试响应压缩方法研究》一文中研究指出测试响应压缩是对AMU故障检测过程中产生的大量数据进行处理的有效方法,如何选择一种有效的压缩方法是AMU测试中一个非常关键的问题;针对常用的两种压缩方法:奇偶压缩和特征分析进行了分析比较;通过建立故障检测模型,找出故障特征矩阵,进而确定测试矩阵;在得出响应矩阵之后,采用两种方法分别进行压缩处理;从硬件开销、故障覆盖率、混淆率和压缩率四个方面出发,对两种方法的性能指标进行理论分析与计算;结果表明,不彻底的奇偶压缩适用于要求测试混淆率比较低的情况,特征分析适用于要求硬件开销较少、检测率较高、压缩效率较高的情况。(本文来源于《计算机测量与控制》期刊2009年12期）
成永升,尤志强,邝继顺[5]（2009）在《扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计》一文中研究指出在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值可以显着地减少测试应用时间,但会使测试需要的引脚数和测试响应数据量增大.为了减少扫描树测试结构需要的引脚数以及测试响应数据量,同时克服错误位扩散带来的困难,在异或网络的基础上,提出一种适用于扫描树结构的测试响应压缩器.该压缩器由扩散抑制电路和异或网络构成,通过抑制电路消除错误位扩散给测试响应压缩带来的困难.最后,用实验数据从性能上分析了该测试响应压缩器的适用性,对于ISCAS89标准电路,最高将输出压缩74倍,且没有混迭产生.(本文来源于《计算机辅助设计与图形学学报》期刊2009年04期）
成永升,尤志强,邝继顺[6]（2008）在《扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计》一文中研究指出在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值,可以显着的减少测试应用时间,但是测试需要的引脚数和测试响应数据量增大。为了减少扫描树测试结构需要的引脚数以及测试响应数据量,同时克服错误位扩散带来的困难,本文在异或网络的基础上,提出了一种适用于扫描树结构的测试响应压缩器。该压缩器由扩散抑制电路和异或网络构成,通过抑制电路消除错误位扩散给测试响应压缩带来的困难。最后用实验数据从性能上分析了该测试响应压缩器的适用性,对于ISCAS'89标准电路,最高将输出压缩74倍,且没有别名产生。(本文来源于《第五届中国测试学术会议论文集》期刊2008-05-01）
叶益群,梁华国,詹凯华[7]（2008）在《基于响应分块相容的测试数据编码压缩方案》一文中研究指出提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容来增加被编码测试向量中的无关位,降低了线性反馈移位寄存器(LFSR)编码种子的度数,且不必增加额外的测试向量,最终达到压缩测试数据的目的.该方案的硬件解压结构仅需一个LFSR和简单的控制电路.实验结果表明,与其他压缩方法,如基于部分向量切分的LFSR重新播种方法、混合码方案和FDR码方案等相比,该方案在压缩效率和硬件开销上都有明显优势.(本文来源于《计算机辅助设计与图形学学报》期刊2008年04期）
叶益群[8]（2008）在《基于响应相容及组频率编码的测试数据压缩研究》一文中研究指出随着芯片集成度的提高和系统规模的增大,测试数据和测试时间迅速增加,这直接导致了测试成本的上升,同时,传统的自动测试仪器(ATE)的存储容量、速度和带宽不能很好地满足测试的需要。这使得芯片的测试面临越来越多的挑战,而如何压缩迅猛增加的测试数据量就是挑战之一,对它的研究受到学术研究机构、集成电路设计商、电子设计自动化工具厂商和集成电路制造企业的密切关注。本文围绕SoC测试数据压缩方法展开研究。测试数据压缩有效地减少了数字电路测试时传输的数据量和测试时间,缓解了因集成度的迅速提高所带来的海量测试数据与传输带宽的矛盾。本文对测试的相关概念,及其面临的挑战进行了介绍,并对测试激励压缩方法及其在工业中的应用进行了总结。本文提出了一种称为分组频率Golomb码的测试数据压缩方法,针对测试集中游程长度分布的不均匀性,通过重新构建Golomb码的前缀码来对码字进行更有效的利用,从而达到提高测试数据压缩率的目的。实验结果表明,本方法能有效提高Golomb码的压缩率。本文针对已有各类LFSR重新播种方法存在的硬件开销大或计算复杂等问题,提出了一种基于响应数据分块相容的测试数据编码压缩方案。由于LFSR重新播种方法中编码生成的种子的长度受测试集中测试向量确定位最大数目S_(max)的制约,通常地,测试向量含确定位越多,越难以编码。该方案利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,将一些需要编码的确定位用无关位代替,从而降低了S_(max)的值,提高了编码成功率,进而降低了LFSR编码种子的度数,且不必增加额外的测试向量,最终获得了较好的测试数据压缩效果。它的硬件解压结构只需要在一个更短的LFSR的基础上添加简单的时序控制逻辑。实验结果表明,与其他压缩方法如基于部分向量切分的LFSR重新播种方法、混合码方法和FDR码方法等相比,建议方案在压缩效率和硬件开销上都有明显优势。(本文来源于《合肥工业大学》期刊2008-04-01）
韩银和,李华伟,李晓维,Anshuman,Chandra[9]（2006）在《基于卷积编码的SOC测试响应压缩研究》一文中研究指出提出一种单输出压缩方法.首先提出了码率为n/(n?1)、距离为3的卷积码的设计规则,利用这些规则可得到卷积码的校验矩阵,该校验矩阵的实现电路即是能够提供单输出压缩的响应压缩电路.所设计的压缩电路可避免2个和任意奇数个错误位的混淆、避免一个未知位(X位)对特征的掩盖.利用概率论分析了未知位掩盖效应.如果未知位分布具有聚簇特征,那么提出的多重量校验矩阵设计算法能够大大降低未知位的掩盖效应.最后用一些实验数据验证了所提出的压缩电路能够提供较强的未知位容忍能力和非常低的错误位混淆率.(本文来源于《中国科学E辑:信息科学》期刊2006年06期）
韩银和,李晓维,李华伟[10]（2005）在《适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计》一文中研究指出测试向量响应压缩电路分为组合压缩电路和时序压缩电路两种.提出一种新的时序压缩电路:锥-压缩器.由于该电路是单输出的,所以总能保证最大压缩率.根据扫描测试中故障出现的特点,通过引入等价概念和两条设计规则来保证该响应压缩电路能够避免2,3和任何奇数个错误位抵消的情况.这两条设计规则同样适用于处理测试响应中出现未知位的情况.提出的基于随机选取生成算法可以自动生成该压缩电路.最后用实验数据从性能和代价两方面分析了锥-压缩器的适用性.(本文来源于《计算机研究与发展》期刊2005年07期）
测试响应压缩论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,进一步增加被编码测试向量中的无关位;降低了线性反馈移位寄存器中编码种子的度数,最终达到压缩测试数据的目的.该方案不增加额外的测试向量,解压电路简单,仅需一个LFSR和简单的控制逻辑.
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
测试响应压缩论文参考文献
[1].孙艳.基于测试响应填充技术的测试数据压缩方法研究[D].湖南大学.2015
[2].顾婉玉,梁华国,徐叁子,陈田,王伟.一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法[C].第六届中国测试学术会议论文集.2010
[3].顾婉玉,梁华国,徐叁子.一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法[J].计算机研究与发展.2010
[4].周德新,李博,樊智勇,王凯.AMU故障检测中测试响应压缩方法研究[J].计算机测量与控制.2009
[5].成永升,尤志强,邝继顺.扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计[J].计算机辅助设计与图形学学报.2009
[6].成永升,尤志强,邝继顺.扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计[C].第五届中国测试学术会议论文集.2008
[7].叶益群,梁华国,詹凯华.基于响应分块相容的测试数据编码压缩方案[J].计算机辅助设计与图形学学报.2008
[8].叶益群.基于响应相容及组频率编码的测试数据压缩研究[D].合肥工业大学.2008
[9].韩银和,李华伟,李晓维,Anshuman,Chandra.基于卷积编码的SOC测试响应压缩研究[J].中国科学E辑:信息科学.2006
[10].韩银和,李晓维,李华伟.适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计[J].计算机研究与发展.2005