均值偏移过程论文_胡雪龙,孙金生

导读:本文包含了均值偏移过程论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译,主要关键词:多核,统计过程控制,均值,向量,样本,哈特,函数。

均值偏移过程论文文献综述

胡雪龙,孙金生[1](2014)在《过程均值随机偏移控制图经济统计设计》一文中研究指出针对异常因素的产生时间服从Gamma(λ,2)分布的过程,通过构建控制图费用函数模型,研究了过程均值随机偏移对控制图经济统计设计的影响。采用模式搜索算法对模型进行寻优来获得控制图参数的综合最优解,并进行了算例说明和参数的灵敏度分析。结果表明,当采用控制图来监控均值随机偏移的过程时,需要采用相对谨慎的监控策略。(本文来源于《南京理工大学学报》期刊2014年05期)

朱海平,尹惠,邓宇浩,黄丹[2](2014)在《过程均值偏移随机的EWMA控制图优化设计》一文中研究指出针对过程均值偏移随机的情况,提出一种统计经济最优的指数加权移动平均控制图优化设计方法。该方法将过程受控、失控未检出、失控被检出并进行恢复这叁个阶段定义为一个周期,分析了叁个阶段的平均时长及质量成本构成,通过计算产品质量特性超出规格界限的概率量化缺陷产品所造成的质量损失,以单位时间内期望成本最小为目标建立指数加权移动平均控制图优化模型并设计了遗传算法,优化了样本容量、采样间隔、平滑界限和控制界限等参数。通过与休哈特均值控制图、传统指数加权移动平均控制图等进行对比验证了该模型的优越性。(本文来源于《计算机集成制造系统》期刊2014年11期)

宋向东,宋宗伟[3](2014)在《监测过程均值小的偏移的综合控制图》一文中研究指出提出的"可变样本的综合控制图"(VGR)是对传统休哈特控制图、合格品链长控制图以及可变样本3者的恰当结合.通过数据显示,可变样本的综合控制图在样本均值发生较小偏移时更能及时发出失控信号,与传统休哈特图以及GR综合控制图相比减少了发信号时要检验的平均样本量,并且在均值未发生偏移时能有一个较大的平均样本量.(本文来源于《郑州大学学报(理学版)》期刊2014年01期)

朱波,刘飞[4](2014)在《基于优化多核支持向量回归的制造过程均值偏移幅度估计》一文中研究指出为更加准确地估计制造过程均值偏移幅度,提出了一种基于多核函数支持向量回归(SVR)的估计方法。多核函数由线性核、多项式核和径向基核3种基本核函数凸组合而成,并通过粒子群优化算法(PSO)对核参数、组合权重系数以及SVR的惩罚系数C进行联合优化,以五折交叉验证求得训练样本的决定系数均值作为粒子适应度值,使生成的多核SVR获得良好的泛化能力。将该多核SVR与累积和(CUSUM)控制图集成构建了过程均值偏移监测模型,仿真实验结果表明,该方法相对人工神经网络(ANN)方法估计精度明显提高,比采用单一径向基核函数的SVR更为优越;在实际齿轮加工过程中进行应用验证,进一步证实了该方法的有效性和实用性。(本文来源于《中国机械工程》期刊2014年05期)

均值偏移过程论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

针对过程均值偏移随机的情况,提出一种统计经济最优的指数加权移动平均控制图优化设计方法。该方法将过程受控、失控未检出、失控被检出并进行恢复这叁个阶段定义为一个周期,分析了叁个阶段的平均时长及质量成本构成,通过计算产品质量特性超出规格界限的概率量化缺陷产品所造成的质量损失,以单位时间内期望成本最小为目标建立指数加权移动平均控制图优化模型并设计了遗传算法,优化了样本容量、采样间隔、平滑界限和控制界限等参数。通过与休哈特均值控制图、传统指数加权移动平均控制图等进行对比验证了该模型的优越性。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

均值偏移过程论文参考文献

[1].胡雪龙,孙金生.过程均值随机偏移控制图经济统计设计[J].南京理工大学学报.2014

[2].朱海平,尹惠,邓宇浩,黄丹.过程均值偏移随机的EWMA控制图优化设计[J].计算机集成制造系统.2014

[3].宋向东,宋宗伟.监测过程均值小的偏移的综合控制图[J].郑州大学学报(理学版).2014

[4].朱波,刘飞.基于优化多核支持向量回归的制造过程均值偏移幅度估计[J].中国机械工程.2014

论文知识图

均值偏移过程均值偏移过程示意图3-5 EWMA 控制图的 ARL 曲线的改进哈休特控制图均值偏移过程的表示连续自适应均值偏移在颜色概率分布图...

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