导读:本文包含了电性测试论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:舜耕山断裂带,高密度电法,数值模拟,电性响应特征
电性测试论文文献综述
汪武[1]（2018）在《舜耕山断裂带电性响应特征及测试研究》一文中研究指出断裂带是一种具有潜在危险性的地质构造,存在很强的活动性和不稳定性,因此对于断裂带特征的研究和探讨是一个持久的课题。舜耕山断裂带位于淮南地区的南缘,在淮南煤田的南部边界,同时淮南区域也是华北板块和华南板块的交界处。通过对舜耕山断裂带的研究,为淮南煤田的开发利用以及工程建设提供依据,对揭示板块运动演变规律也有着重要的地质意义。本文基于淮南地区地质概况,介绍了高密度电法的相关技术原理和断裂带探测的理论基础;数值模拟了不同装置、电极距、不同倾角、断层宽度、富水性等情况下的断层探测;通过舜耕山现场电法勘探试验成果分析研究了断层电性响应特征,进而探究了舜耕山断裂带构造信息特征。主要得到了如下结论:(1)数值模拟具有一定的效果,依据电阻率反演剖面能有效判别断层基本正逆属性,可对地层进行良好的分层。温施装置模拟装置模拟效果最好,断层及地层电性响应特征明显。小电极距探测分辨较高,但限制了勘探深度。倾角的准确判定存在困难,相对小倾角断层电性响应较好。不同断宽模拟结果显示断层宽度值与所建立模型断层宽度吻合较好。正断层对富水性响应明显,逆断层富水性模拟剖面中富水特征不明显。表层介质相对高低阻差异在层厚分辨和倾角上电性响应特征不同。断层落差值判定具有难度,落差变化的电性响应特征不明显。总之,数值模拟整体上对断层的电性响应特征良好,但个别断层要素的响应不好,需要进一步深入研究。(2)基于现场试验结果分析表明:应用高密度电法探测舜耕山断裂带的总体效果良好,不同装置和不同电极距对断层异常探测分辨有所不同。温施装置对断层探测效果较好,3m和5m电极距断层探测效果相似,小电极距探测对断层及地层分辨效果相对较好,对异常的探查精度较高,但勘探深度没有优势,在实际探测过程中,应结合具体探测要求合理选择电极距进行探测。(3)舜耕山断层原则上为逆冲推覆断层,探测区断层走向为近东西向,结合叁个试验区电法勘探成果图,主断层出露地表点连线合成的断层走向曲线图显示断层为近似东西走向。综合所有探测剖面,大致确定舜耕山主断层倾角近似分布在60°-75°之间,倾向向南,随着断层向深部发展,倾角有变缓趋势。断层上下盘落差大于10m,受限于勘探深度,无法对落差值进行准确判定。舜耕山断层结构特征相对复杂,需结合此探测区相关地质资料和不同的探测技术及方法进行综合评价。(本文来源于《安徽理工大学》期刊2018-06-10）
陆大进,薛国强,杜东旭,马振军[2]（2017）在《安微省典型矿集区岩石各向异性电性参数测试分析》一文中研究指出为调查安徽省重要矿集区地球物理参数,对岩石电性参数存在各向异常进行研究。选取安徽省霍邱矿集区、庐枞矿集区、宁芜矿集区、东至—泾县成矿带等4个地区的沉积岩、变质岩为样本,分别进行3个方向的电阻率、极化率测试,测试结果证实:沉积岩、变质岩、火山沉积岩都存在非常明显电阻率各向异性,电阻率越高,其垂向电阻率与水平方向电阻率比值越大;岩石极化率各向异性不明显。通过岩石电性参数各向异性数据分析,总结了岩石电性参数各向异性特征,为电法勘探综合解释提供基础资料及依据。(本文来源于《物探与化探》期刊2017年02期）
李昕[3]（2016）在《基于电性法测试水泥基材料孔隙率》一文中研究指出水泥基材料是一种非均质多孔材料,研究其孔结构是提出改善和提高水泥基材料质量的有效措施。本研究根据毛细吸水原理,通过推导得到毛细吸水系数和渗入深度系数之间的关系,基于电性法和称重法相结合,对水泥基材料孔隙率进行测定,得到试件相对精确孔隙率,最大相对误差不超过5%。对于评价水泥基材料收缩等与孔隙率相关的特性有较好的参考价值。试验测试装置较为简单易行,将该装置优化后,可以作为实际工程原位监测手段。(本文来源于《低温建筑技术》期刊2016年05期）
柯遥[4]（2013）在《基于电性测试的SRAM单元失效工程分析》一文中研究指出SRAM广泛地被大部分晶圆代工厂主要使用,用来作为全新引入工艺的工艺调试以及已经投入实际使用的工艺的工艺监控。利用SRAM的可寻址性,可以比较容易地对失效点进行定位,并通过原子力显微镜探针(AFP)、扫描电镜(SEM)等物性失效分析手段来确认,分析失效原因,定位到产生失效的工艺步骤并进行改进。本论文提出了一种SRAM单元失效分析的新方法,这种方法不依赖于物性失效分析手段,而是通过特定测试流程与DFT电路进行电性分析。主要内容如下：(1)全面分析了SRAM单元的工作原理与最低电压失效的机制。(2)对最低电压失效的SRAM单元进行了失效建模,并借助DFT电路与特定测试流程,获取电性数据进行失效分析,最终将失效位置定位到了特定晶体管与失效类型。(3)通过对实际失效单元进行分析,以及将新分析方法所得到的结果与传统物性分析(主要为原子探针)所获数据进行比较,验证了新方法的可靠性。与传统的AFP等物性失效分析手段相比,新的电性分析方法由于受原理所限,其精度暂时还比不上传统的方法,但其独特的非破坏性,可大规模进行,耗时少等优点,使其更适合工程分析领域的应用。(本文来源于《复旦大学》期刊2013-08-01）
张朋,彭岩,刘盛东[5]（2013）在《采煤面底板变形与破坏地电性动态测试》一文中研究指出对比目前常用的采煤面底板岩层变形与破坏测试方法特点,将地电性动态测试运用到采煤面底板岩层破坏规律测试中,通过在井下巷道底板中布置一定数量测量电极,煤层底板施工一定角度钻孔安装圈式电极,形成固定巷-孔立体测试空间,并根据采煤面回采进度测取不同时期地电参数变化特征分析底板破坏带发育规律及程度。现场探测应用表明:电阻率值的时空变化可以连续动态直观清晰分辨出底板岩层结构破坏发育及破坏带范围;激励电流对岩层裂隙变形与发育位置具有较好灵敏性和指示作用;该测试方法具有针对性,其施工简单,费用较低,不仅对矿井安全生产具有现实意义,对其他岩土工程也有重要参考价值。(本文来源于《西安科技大学学报》期刊2013年02期）
王泽东[6]（2013）在《四端式测试在PCB电性不良分析中的应用》一文中研究指出本文从PCB电性能测试原理方面阐述了两端式及四端式的测试原理,从中分析了四端式测试在PCB测试精度方面较两端式测试的优势。同时介绍了四端式测试在PCB电性能不良分析中的一种应用方法——即通过四端式测试出不良网络阻值,再结合数学计算确定不良发生位置。(本文来源于《电子制作》期刊2013年06期）
侯育[7]（2009）在《浅述PCB电性测试设备的发展趋势》一文中研究指出新的封装技术以及新的工艺将逐步在PCB的制程上使用,PCB的电性能测试将显得格外重要,本文介绍了现阶段PCB电性能测试技术的发展和分类,PCB电性能测试技术和测试设备的现状,未来PCB测试设备的发展方向以及测试设备急需突破的技术瓶颈。(本文来源于《印制电路信息》期刊2009年S1期）
吴俊军[8]（2009）在《开口同轴法测试岩石电性参数的方法研究》一文中研究指出地球物理方法是利用介质的物理性质差异,对地下异常体进行探测的。在金属矿探测中,围岩与矿体之间存在的电性差别,是区分二者的重要标志。此外探地雷达是以高频电磁波传播为基础,而决定电磁波场波速的主要因素是介电常数。因此以介电常数及电导率为主的电性参数的测试,就显得尤为必要。传统岩矿石介电常数测试方法主要使用同轴传输/反射法,而开口同轴法应用在岩矿石电性测试方面的工作开展的较少。本文基于终端开口同轴探头法,利用谱域准静态模型,开发了一套岩矿石复介电常数测试系统。该系统岩矿石样品制作简单,避免了传统方法中岩样制作困难、岩样成品率低的弊病,且算法较为成熟。使用该方法分别对吉林长仁镍铜矿、赤峰黄花沟铅锌矿、赤峰碾子沟钼矿进行了围岩及矿石的介电常数测试。介电常数计算结果能够很好的表征围岩和矿石的差别。这为实际金属矿钻孔探测打下了基础。(本文来源于《吉林大学》期刊2009-06-01）
张文英,柴彦清[9]（2008）在《测试条件对电容器电性参数值的影响》一文中研究指出针对同一只电容器因测试条件差异其四个电性参数测试值差别较大的状况,分析讨论了影响电容器电性参数值准确测量的主要因素及解决方法,指出影响电容器准确、可靠筛选测试的主要条件为测试信号、接线方式、等效输出方式、清零、充电状态及测试时刻。了解这些影响,对电容器生产单位来说可以控制生产工艺,生产出满足用户特定要求的产品;对电容器使用单位来说,可以控制测试条件,选择到最适合本单位使用要求的电容器。(本文来源于《中国测试技术》期刊2008年05期）
李木子[10]（2007）在《DRAM器件制造的新工艺和电性测试参数的分析》一文中研究指出DRAM (Dynamic Random Access Memory) -动态随机存储器是一种常见的存储器类型,由于具有结构简单,密度高,低功耗,价格低廉等优点,使其在计算机领域和电子行业中越来越广泛地被加以应用。DRAM器件由于本身制造工艺的先进性,使其一直作为半导体制造工业发展的标杆,许多最先进的制造工艺,都会首先应用到DRAM器件的制造中,在一些重要的半导体制造工艺参数上,如最小线宽,单位面积逻辑比特,金属连线层数,掩模层数和缺陷密度,DRAM器件也体现出了最高的工艺水平。本篇论文先是从DRAM的基本知识入手,论述了DRAM的基本结构及其工作原理和工作时序。继而,本篇论文对DRAM器件的晶圆制造工艺作了详细地论述,包含了诸如:有源区的形成,栅极的形成,源漏极的形成,存储电容的形成以及金属互连等重要工艺,并以此为基础,从作者的工程经验出发,论述了目前一些DRAM器件晶圆制造的新工艺并且对未来DRAM器件晶圆制造工艺的发展方向进行了展望。随后,论文针对本人的实际工作,对DRAM器件的电性测试作了重点阐述,包括了对晶圆参数检测的测试参数、测试结构以及测试方法的论述;晶圆筛选检测测试系统的论述和DRAM器件的晶圆筛选检测的测试流程的论述,并在作者实际工作的基础上论述了一些如何通过电性测试来提高器件良品率的工程经验,在此过程中,着重论述了如何通过SmartTest方案来减少测试时间以及测试成本的工程实例。本篇论文旨在通过对DRAM器件的基本结构,工作原理,制造工艺,电性测试的分析,从而着重论述目前一些主要的DRAM制造过程中的新工艺藉以阐述DRAM器件今后的发展方向,并且从工程实践的角度出发,阐述了如何从电性测试入手分析DRAM器件的的失效模式,缺陷来源以及如何对工艺进行相应的改进。(本文来源于《天津大学》期刊2007-07-01）
电性测试论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
为调查安徽省重要矿集区地球物理参数,对岩石电性参数存在各向异常进行研究。选取安徽省霍邱矿集区、庐枞矿集区、宁芜矿集区、东至—泾县成矿带等4个地区的沉积岩、变质岩为样本,分别进行3个方向的电阻率、极化率测试,测试结果证实:沉积岩、变质岩、火山沉积岩都存在非常明显电阻率各向异性,电阻率越高,其垂向电阻率与水平方向电阻率比值越大;岩石极化率各向异性不明显。通过岩石电性参数各向异性数据分析,总结了岩石电性参数各向异性特征,为电法勘探综合解释提供基础资料及依据。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
电性测试论文参考文献
[1].汪武.舜耕山断裂带电性响应特征及测试研究[D].安徽理工大学.2018
[2].陆大进,薛国强,杜东旭,马振军.安微省典型矿集区岩石各向异性电性参数测试分析[J].物探与化探.2017
[3].李昕.基于电性法测试水泥基材料孔隙率[J].低温建筑技术.2016
[4].柯遥.基于电性测试的SRAM单元失效工程分析[D].复旦大学.2013
[5].张朋,彭岩,刘盛东.采煤面底板变形与破坏地电性动态测试[J].西安科技大学学报.2013
[6].王泽东.四端式测试在PCB电性不良分析中的应用[J].电子制作.2013
[7].侯育.浅述PCB电性测试设备的发展趋势[J].印制电路信息.2009
[8].吴俊军.开口同轴法测试岩石电性参数的方法研究[D].吉林大学.2009
[9].张文英,柴彦清.测试条件对电容器电性参数值的影响[J].中国测试技术.2008
[10].李木子.DRAM器件制造的新工艺和电性测试参数的分析[D].天津大学.2007