论文摘要
PCB的金手指缺陷直接影响电气设备的性能和稳定性。为了克服传统的图像检测PCB金手指表面镀层缺陷,本文提出了利用计算金手指图像的信息熵来检测其表面镀层缺陷,并讨论了两种信息熵检测算法。一是针对金手指表面露铜、氧化等缺陷,基于颜色变化的信息熵检测算法。二是针对金手指表面划伤缺陷,基于结构变异的信息熵检测算法。测试结果表明,金手指表面图像检测能有效识别露铜、划伤等缺陷,对实际的PCB金手指在线检测有一定的指导意义。
论文目录
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 王付军
关键词: 信息熵,金手指,缺陷
来源: 河南科技 2019年26期
年度: 2019
分类: 基础科学,工程科技Ⅰ辑,信息科技
专业: 金属学及金属工艺,无线电电子学,计算机软件及计算机应用
单位: 聊城大学东昌学院
基金: 山东省高等学校科技计划项目（J17KB145）
分类号: TP391.41;TN41;TG174.4
页码: 29-32
总页数: 4
文件大小: 1552K
下载量: 28
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