锁相热成像无损检测系统激励源的设计

锁相热成像无损检测系统激励源的设计

论文摘要

红外热成像技术是一种重要的无损检测(NDT)技术,已广泛应用于现代航空航天,可再生能源,核工业等领域。激励光源是红外热成像系统的关键器件,对检测结果起决定性作用。设计了一种新颖的激励源,介绍了其电路拓扑,工作原理和电路的设计过程。研制了一台频率范围为0.01Hz~100kHz的2kW样机。通过对铅-钢复合样品的内部缺陷检测,验证了所设计的无损检测激励源安全可靠。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 设计目的及理论依据
  • 2 激励源的构成及拓扑结构
  •   2.1 激励源的主电路构成
  •   2.2 正弦生成电路
  •   2.3 激励源的FPGA系统
  • 3 实验结果
  •   3.1 激励源测试结果
  •   3.2 激励源的应用
  • 4 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 谢飞,林茂松,朱玉玉

    关键词: 无损检测,红外热成像,锁相激励源

    来源: 制造业自动化 2019年12期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑,信息科技

    专业: 金属学及金属工艺,无线电电子学,计算机软件及计算机应用

    单位: 西南科技大学信息工程学院,电子科技大学自动化工程学院

    基金: 国家自然科学基金资助项目(51377015)

    分类号: TP391.41;TG115.28;TN219

    页码: 116-119

    总页数: 4

    文件大小: 4046K

    下载量: 63

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