椭偏光谱论文_范真涛,汤媛媛,魏凯,陈颖,张雨东

导读:本文包含了椭偏光谱论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译,主要关键词:光谱,折射率,偏光,测量,材料,克尔,穆勒。

椭偏光谱论文文献综述

范真涛,汤媛媛,魏凯,陈颖,张雨东[1](2019)在《光谱椭偏系统光源和光谱仪偏振相关系数测量》一文中研究指出光谱椭偏测量技术已广泛应用于材料科学、微电子、物理化学和生物医学等领域。在光谱椭偏测量系统中,由于起偏器和检偏器存在漏光等瑕疵,光源子系统的偏振度和光谱仪子系统的偏振敏感度会影响光谱椭偏系统的测量精度。针对这一问题,本文建立了光谱椭偏测量系统的偏振相关系数的修正模型;并提出了一种同时测量光源子系统和光谱仪子系统偏振相关系数的方法。利用现有实验室内的宽带光源系统和宽带光谱仪验证了这种测量方法的可行性。(本文来源于《光电工程》期刊2019年12期)

李清灵,尹达一[2](2019)在《椭偏测量法的油膜紫外可见-近红外光谱光谱偏振特性研究》一文中研究指出为实现水面溢油目标的偏振遥感,选择合适的波段和观测角度,需要油膜的光谱偏振特性数据作支撑。在实验室采用椭偏测量的方法,针对不同厚度机油油膜和纯净水作为背景样本,测量了不同观测角度下从紫外到近红外波段(270~900 nm)的镜面反射光谱偏振参数:辅助角ψ和相位差Δ,并对在相同条件下油和水的测量结果作对比。分析表明除布儒斯特角附近位置外,不同厚度的油膜与水的起偏特性在各观测角都存在差异。通过在45°入射角所测的ψ和Δ,得到水/油样本的光谱折射率和消光系数,水折射率经过偏移修正后,与Schiebener水折射率模型的标准差为3×10~(-5)。根据之前得到的油/水参数,对油膜在水背景的物理现象作薄油膜理想介质层建模,用菲涅耳定律仿真自然光的镜面反射,发现在全观测波段相同入射光条件下油膜的反射光存在明显的偏振度(DOP)或偏振角(AOP)光谱偏振可观测性。模型与实际测量结果对比发现:在300~350 nm仿真结果和实际测量相符,油膜的反射光偏振性质趋近于油样本;在350~550 nm,油膜模型仿真结果比实验的干涉效应更明显,油膜实验数据表明其光谱起偏性质依然与油保持一致;在大于550 nm直到近红外波段,实验干涉效应开始显着。说明油膜比油有更强的散射或吸收特性,辨识参数得到油膜的消光系数存在不同于油的随波长先变小后变大的性质。总之,利用光谱椭偏测量方法,通过多波段、多角度测量,分析液体样本的光谱偏振特性和折射率等性质;偏振观测的恰当角度与油/水的布儒斯特角有关,在布鲁斯特角之外的位置观测,油膜的光谱椭偏角相较水都存在分辨能力;对小于200μm的薄油膜近红外波段可重复性较差,而紫外和可见蓝紫波段相比之下有很好的可重复性和区分性,更适合于对甚薄油膜表面种类的遥感观测。该实验涉及的方法可以用于其他油种油膜的偏振光谱测量,实验数据为偏振遥感工作的波段选择与观测角度提供提供参考。(本文来源于《光谱学与光谱分析》期刊2019年06期)

宋浩男[3](2019)在《旋转补偿器的光谱磁光椭偏系统研究》一文中研究指出随着科学技术的发展以及工业制造能力的进步,新型薄膜材料不断涌现,薄膜材料在通信、生物、军工等领域也正在发挥着越来越重要的作用。磁性薄膜材料作为一种特殊的薄膜材料因为其在磁存储、磁光传感器件、磁光开关等领域展现出的优异性能受到了越来越广泛的关注。磁性薄膜材料的制备、优化等方向都需要更先进的表征技术。磁光椭偏测量技术具有测试灵敏、精度好、测量速度快、不会对样品造成物理损伤、可以实现样品生长过程的实时监测等优点,是进行磁性薄膜材料测量的理想手段。本论文针对目前磁光椭偏技术存在的问题,创新性地提出一种旋转补偿器的光谱磁光椭偏系统,利用该系统可减小测试过程中直流信号、高频信号以及周围环境光的影响,可以大大提高信噪比;能求出椭偏参量的正弦和余弦值,解决椭偏参量符号不确定的问题;可一次测量材料的多个光学和磁学参数;有效提高测量速度,降低误差,工业应用性强。本论文基于偏振理论的穆勒矩阵对旋转补偿器的光谱磁光椭偏系统原理进行了推导,得到了系统出射光强的表达式,并利用该表达式得到了材料穆勒矩阵元素的求解方法。在此基础上基于磁光克尔效应理论对磁性体材料、单层磁性薄膜材料、多层磁性薄膜材料进行了建模,给出了使用旋转补偿器的光谱磁光椭偏系统对各向同性磁性薄膜材料的厚度、光学参数、磁学参数进行分析的方法。根据上述系统理论基础构建了一种旋转补偿器的光谱磁光椭偏系统,仿真分析了其入射角,起偏器、补偿器、检偏器角度误差对磁光耦合系数测试结果的影响,根据系统理论提出上述器件角度精确值的标定方式。(本文来源于《山东大学》期刊2019-05-25)

祝思敏[4](2019)在《超薄材料光谱椭偏测量研究》一文中研究指出伴随技术创新,光电器件逐渐微型化,也促使薄膜厚度越来越薄。以前可能被忽略不计的几个纳米厚度的超薄材料成为研究的焦点。这些超薄材料具有与块体材料不同的光电性质,且光学常数会随着厚度发生改变。无论是在基础科学研究还是光电子器件的设计优化中,都需要准确获取超薄材料的厚度和光学性质。光谱椭偏测量在超薄材料的几何结构参数和光学常数测量中广泛应用。本文在传统椭偏测量数据分析方法的基础上,研究了如何实现超薄材料基于椭偏参数的层数快速识别,提出了基于解析求解的快速获取超薄材料光学常数的计算方法。具体内容如下:(1)研究了基于模型拟合的超薄材料椭偏测量基本理论方法。本文阐述了椭偏测量的基本原理、膜系的光学特性建模、粗糙界面处理方法、基于拟合的待测参数提取方法。通过上述光谱椭偏理论方法测量提取了石墨烯光学常数。(2)针对超薄层状材料的层数快速识别问题,通过建模仿真,以透明基底上的石墨烯为例,实现椭偏测量快速识别二维材料层数,且对比度明显,优于光学识别方法。通过椭偏测量实验,验证了方法的可行性,达到了快速识别二维材料层数的目的。(3)针对超薄材料光学常数椭偏测量数据分析,提出了在无先验知识条件下快速直接的光学常数正向解析计算方法。通过仿真对该方法的适用范围进行了研究,并将其应用到石墨烯、二硫化钼和二硒化钨等二维材料上,获得了这些二维材料的光学常数,证明了该方法的有效性。本文提出的理论方法和实验测量结果将为提高椭偏测量超薄材料的能力提供指导思路,为超薄材料研究及应用铺平道路。(本文来源于《华中科技大学》期刊2019-05-01)

唐帆斌[5](2019)在《K9玻璃基底的宽光谱特性椭偏法研究》一文中研究指出为了获得K9玻璃基底的光学常数,采用德国SENTECH生产的SE850宽光谱反射式光谱型椭偏仪,测量和分析了K9玻璃基底,得到了K9玻璃在380nm~2300nm宽光谱上的光学常数曲线。分别测量了在入射角为60o、65o和70o下的椭偏曲线,采用最简单的"基底/空气"模型进行拟合,选用最适合描述非晶半导体的Tauc-Lorentz色散公式对于K9玻璃进行模型拟合,在入射角为70o时得到最小的均方差(MSE),同时获得K9玻璃在380nm~2400nm光谱范围内的折射率曲线。(本文来源于《中阿科技论坛(中英阿文)》期刊2019年01期)

韩志国,李锁印,赵琳,冯亚南,梁法国[6](2017)在《一种光谱型椭偏仪的校准方法》一文中研究指出针对光谱型椭偏仪校准结果受测量模型影响大的问题进行研究,提出一种不受测量模型影响的校准方法,即通过校准椭偏角实现光谱型椭偏仪的校准。依据椭偏仪测量原理,通过仿真分析确定实现较大范围内椭偏角校准所需标准样片的薄膜厚度量值,并采用半导体热氧化工艺制备出性能稳定的膜厚标准样片。使用标准样片对型号为M-2000XF的光谱型椭偏仪的椭偏角进行校准,样片厚度为2,50,500 nm对应的椭偏角偏差分别在±0.6°,±1.5°,±2°以内,该偏差对薄膜厚度的影响不超过±0.5 nm。经实验表明:该方法不受椭偏仪测量模型的影响,可有效解决光谱型椭偏仪的校准问题。(本文来源于《中国测试》期刊2017年12期)

张寅辉,任玲玲,高慧芳,贾亚斌,Fu,Weien[7](2017)在《纳米尺度HfO_2薄膜的光谱椭偏模型建立》一文中研究指出为了建立厚度为1 nm左右HfO_2超薄膜的光谱椭偏测量方法,采用掠入射X射线反射技术进行国家/地区实验室间比对认证,其膜厚准确量值作为参比值,建立了HfO_2超薄膜的光谱椭偏结构拟合模型。研究了HfO_2超薄膜的光谱椭偏色散模型和拟合参数,最后确定了拟合色散模型为Tauc-Lorentz 3,拟合光谱范围为3.45~4.35 eV,表面污染层孔隙比例为60:40。(本文来源于《计量学报》期刊2017年05期)

陈莉,尹鹏和,刘军山,徐征,崔岩[8](2017)在《开放式光谱椭偏实验教学中的科研训练》一文中研究指出椭偏法在材料的光学性质和薄膜厚度检测中发挥着重要的作用,椭偏测量也已纳入很多高校的实验教学内容。针对实验教学中原理展示性不足、与科研实际结合不紧密的问题,对课程形式和内容进行了改变。制作了光谱椭偏仪器件装配和动态测量视频,增加椭偏测量教学中的原理展示性,加强理论贯通性,联系科研实际,增加实验内容,通过对不同类型样品的测量分析讨论,培养学生解决实际问题的能力和创造性思维。(本文来源于《实验技术与管理》期刊2017年09期)

张玉苹[9](2017)在《研究生椭偏光谱实验课的教学探讨》一文中研究指出在研究生的椭偏光谱实验课中,本文站在学生的角度精心设计教学内容,采用理论结合实际的讲授方式,从仪器的注意事项、操作步骤、数据处理叁方面深入讨论,使研究生更好地利用椭偏谱仪为科学研究提供有力的数据支持,并掌握一项科研仪器的使用技能。(本文来源于《教育教学论坛》期刊2017年28期)

林书玉,吴峰,陈长清,梁毅,万玲玉[10](2017)在《使用椭偏光谱研究氮化铝薄膜在不同温度下的光学性质(英文)》一文中研究指出通过椭偏仪对生长在蓝宝石上的不同厚度氮化铝薄膜的变温光学性质进行了研究,并采用托克-洛伦兹模型对椭偏实验数据进行了拟合分析,精确得到了氮化铝薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)等.研究的结果表明:相比薄的氮化铝薄膜,厚的氮化铝薄膜的折射率较大.随着温度的升高,氮化铝的折射率、消光系数和带隙会向低能端单调地移动(红移);厚度对带隙随温度改变的影响较小,对折射率则有一定的影响.(本文来源于《红外与毫米波学报》期刊2017年03期)

椭偏光谱论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

为实现水面溢油目标的偏振遥感,选择合适的波段和观测角度,需要油膜的光谱偏振特性数据作支撑。在实验室采用椭偏测量的方法,针对不同厚度机油油膜和纯净水作为背景样本,测量了不同观测角度下从紫外到近红外波段(270~900 nm)的镜面反射光谱偏振参数:辅助角ψ和相位差Δ,并对在相同条件下油和水的测量结果作对比。分析表明除布儒斯特角附近位置外,不同厚度的油膜与水的起偏特性在各观测角都存在差异。通过在45°入射角所测的ψ和Δ,得到水/油样本的光谱折射率和消光系数,水折射率经过偏移修正后,与Schiebener水折射率模型的标准差为3×10~(-5)。根据之前得到的油/水参数,对油膜在水背景的物理现象作薄油膜理想介质层建模,用菲涅耳定律仿真自然光的镜面反射,发现在全观测波段相同入射光条件下油膜的反射光存在明显的偏振度(DOP)或偏振角(AOP)光谱偏振可观测性。模型与实际测量结果对比发现:在300~350 nm仿真结果和实际测量相符,油膜的反射光偏振性质趋近于油样本;在350~550 nm,油膜模型仿真结果比实验的干涉效应更明显,油膜实验数据表明其光谱起偏性质依然与油保持一致;在大于550 nm直到近红外波段,实验干涉效应开始显着。说明油膜比油有更强的散射或吸收特性,辨识参数得到油膜的消光系数存在不同于油的随波长先变小后变大的性质。总之,利用光谱椭偏测量方法,通过多波段、多角度测量,分析液体样本的光谱偏振特性和折射率等性质;偏振观测的恰当角度与油/水的布儒斯特角有关,在布鲁斯特角之外的位置观测,油膜的光谱椭偏角相较水都存在分辨能力;对小于200μm的薄油膜近红外波段可重复性较差,而紫外和可见蓝紫波段相比之下有很好的可重复性和区分性,更适合于对甚薄油膜表面种类的遥感观测。该实验涉及的方法可以用于其他油种油膜的偏振光谱测量,实验数据为偏振遥感工作的波段选择与观测角度提供提供参考。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

椭偏光谱论文参考文献

[1].范真涛,汤媛媛,魏凯,陈颖,张雨东.光谱椭偏系统光源和光谱仪偏振相关系数测量[J].光电工程.2019

[2].李清灵,尹达一.椭偏测量法的油膜紫外可见-近红外光谱光谱偏振特性研究[J].光谱学与光谱分析.2019

[3].宋浩男.旋转补偿器的光谱磁光椭偏系统研究[D].山东大学.2019

[4].祝思敏.超薄材料光谱椭偏测量研究[D].华中科技大学.2019

[5].唐帆斌.K9玻璃基底的宽光谱特性椭偏法研究[J].中阿科技论坛(中英阿文).2019

[6].韩志国,李锁印,赵琳,冯亚南,梁法国.一种光谱型椭偏仪的校准方法[J].中国测试.2017

[7].张寅辉,任玲玲,高慧芳,贾亚斌,Fu,Weien.纳米尺度HfO_2薄膜的光谱椭偏模型建立[J].计量学报.2017

[8].陈莉,尹鹏和,刘军山,徐征,崔岩.开放式光谱椭偏实验教学中的科研训练[J].实验技术与管理.2017

[9].张玉苹.研究生椭偏光谱实验课的教学探讨[J].教育教学论坛.2017

[10].林书玉,吴峰,陈长清,梁毅,万玲玉.使用椭偏光谱研究氮化铝薄膜在不同温度下的光学性质(英文)[J].红外与毫米波学报.2017

论文知识图

退火样品断面的FE-SEM照片使用不同制作条件的rr-P3HT:PCBM薄...3 氧化锆膜的相组成 XRD 结果型的宽光谱可变入射角椭偏仪中的...样品的椭偏光谱测试和拟合曲线不同电子辐照剂量下MgA l2O4尖晶石的~#...

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