GIS设备异物缺陷X射线检测研究

论文摘要

SF6气体绝缘全封闭组合电器(GIS)内部可能出现金属微粒等异物缺陷导致故障,因此对GIS设备内部的异物缺陷故障进行检测具有重要的意义。X射线成像法是一种检测GIS设备内部缺陷的有效方法,但缺乏成熟的参数选择方法。文中对X射线检测的基本理论进行了介绍,对GIS设备X射线检测参数选择方法进行了讨论,并为220kV GIS设备内异物缺陷检测选择了合适的参数。在选定参数下,使用双丝像质计对射线成像系统的不清晰度进行了研究,验证了X射线对金属微粒缺陷检测的可行性,之后在GIS设备内部设置异物缺陷并利用X射线检测系统进行缺陷检测。结果表明,选定参数能够对遗落零件缺陷以及1～2 mm的铜金属微粒缺陷进行有效的检测;对1～2 mm的铝金属微粒缺陷,X射线成像法能够实现检测,但对比度较低。

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文章来源

类型: 期刊论文

作者: 周艺环,王嘉琛,王亚楠,李志闯,夏健,丁卫东

关键词: 气体绝缘全封闭组合电器,射线检测,参数选择方法,内部异物缺陷

来源: 高压电器 2019年01期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑

专业: 电力工业

单位: 国网陕西省电力科学研究院,西安交通大学电气工程学院

基金: 国家电网公司总部科技项目(SGSNKY00KJJS1501562)~~

分类号: TM595

DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2019.01.007

页码: 41-46+53

总页数: 7

文件大小: 3005K

下载量: 131

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