论文摘要
为了评估电源芯片是否满足可靠性要求。设计了DC-DC电源芯片的可靠性加速寿命试验,选取温度、湿度和电压作为综合加速应力,根据Eyring理论模型,模拟预测出现场运行10年后,电源芯片的累计失效率远远超过电能表寿命保证期内允许的累计失效率0.65%的要求。分析其失效根源,确认制作过程中,夹头倾斜导致制作的BLT（胶层厚度）厚度存在几乎为0的情况,造成PIN脚（电源芯片的金属管脚）与GND之间无胶层而存在接触短路。
论文目录
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 王乐,卢炽华,王晓东,章蓉芳,孙志端
关键词: 智能电表,失效分析,理论,电源芯片
来源: 电子器件 2019年04期
年度: 2019
分类: 信息科技,工程科技Ⅱ辑
专业: 电力工业
单位: 威胜集团有限公司,中国电力科学研究院有限公司
分类号: TM933.4
页码: 871-876
总页数: 6
文件大小: 1489K
下载量: 147
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