论文摘要
综述了第一性原理计算在可靠性物理中尤其是在新电子材料和纳米器件失效机理研究中的应用,重点阐述了第一性原理计算在对电子材料失效机理解释、失效过程模拟、缺陷影响分析、材料筛选、简单元器件的筛选和设计等中的应用。第一性原理计算在从微观尺度上研究新材料、纳米器件的失效机理和失效过程方面已发挥了重要的作用,并能够通过对电子材料的筛选、设计和简单元器件的设计为提高电子器件的可靠性提供理论依据和指引。随着计算机技术的发展及其与人工智能技术的结合,第一性原理计算将能更深刻地反映新电子材料和纳米器件的失效机理和过程,并得到更加广泛的应用。
论文目录
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 郑玉杰,伍昆仑,郑雪松,帅勇
关键词: 第一性原理计算,可靠性物理,失效机理,新材料,纳米器件
来源: 电子产品可靠性与环境试验 2019年S1期
年度: 2019
分类: 信息科技,基础科学,工程科技Ⅱ辑
专业: 数学,工业通用技术及设备
单位: 重庆赛宝工业技术研究院,工业和信息化部电子第五研究所
分类号: TB114.3
页码: 39-45
总页数: 7
文件大小: 2314K
下载量: 46
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