半导体激光器退化表征与嵌入式测试

半导体激光器退化表征与嵌入式测试

论文摘要

半导体激光器(LD)广泛应用于国防和经济的诸多领域,其精密化和集成化程度高,给嵌入式在线监测带来一定挑战。对LD有源区退化和腔面退化,在LD经典等效电路模型基础上,构建了可模拟退化过程的等效电路模型;经过仿真和对比分析,得出阈值电流和斜率效率可分别表征这两种退化的结论;针对这两个表征参数在线监测难问题,提出在LD现有监测参数基础上,补充监测调制电流,以及利用调制电流和其他已监测参数在线计算阈值电流和斜率效率的方法,并给出了调制电流的嵌入式测试方案,最后通过实物实验验证了仿真模型的准确性和嵌入式测试方法的有效性。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 LD退化建模与仿真
  •   1.1 LD本征等效电路模型
  •   1.2 LD退化建模
  •     1.2.1 有源区退化模型
  •     1.2.2 腔面退化模型
  • 2 LD表征参数选择
  • 3 LD嵌入式测试设计与实现
  •   3.1 LD阈值电流和斜率效率的在线测试方法
  •   3.2 监测电路设计与实现
  • 4 验证分析
  •   4.1 实验平台搭建
  •   4.2 实验过程与数据分析
  • 5 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 杨鹏,胡业荣

    关键词: 半导体激光器,嵌入式测试,表征参数,阈值电流,斜率效率

    来源: 国外电子测量技术 2019年03期

    年度: 2019

    分类: 信息科技,基础科学

    专业: 物理学,无线电电子学

    单位: 国防科技大学装备综合保障技术重点实验室

    基金: 青年科学资金项目(51605482)资助

    分类号: TN248.4

    DOI: 10.19652/j.cnki.femt.1801166

    页码: 97-102

    总页数: 6

    文件大小: 455K

    下载量: 59

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