论文摘要
以光耦的漏电流参数为刻画对象,使用维纳过程对其进行描述。但使用维纳过程描述不同光耦漏电流退化的个体性差异,以及漏电流非线性数据的处理以及明确失效阈值的缺乏,是目前亟待解决的问题。对线性维纳过程进行了改进,建立了随机变量阿伦尼乌斯方程,以对漂移系数λ进行随机化处理,其次利用时间-尺度变换公式解决了非线性数据转变为线性数据的问题,最后使用两步极大似然估计对参数进行估计。针对缺乏明确失效阈值的问题,设立了游动阈值对可靠度进行了讨论。最终评定在长储环境下光耦的t0. 9为25. 4年至27. 5年。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 张烜工,穆希辉
关键词: 光电耦合器,贮存可靠性,维纳过程,随机变量阿伦尼乌斯方程,时间尺度变换
来源: 兵器装备工程学报 2019年04期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅱ辑
专业: 武器工业与军事技术
单位: 陆军工程大学石家庄校区弹药工程系,陆军研究院特种勤务研究所
基金: 高过载条件下复杂机电设备贮存寿命评估(61471385)
分类号: TJ413.6
页码: 75-78+131
总页数: 5
文件大小: 159K
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标签：光电耦合器论文; 贮存可靠性论文; 维纳过程论文; 随机变量阿伦尼乌斯方程论文; 时间尺度变换论文;