论文摘要
针对包装质量检测精度易受外界光照影响的问题,在已有基于梯度幅值相似性的缺陷检测算法基础上,将局部二值模式算子引入到该算法中,提出了一种基于改进梯度幅值相似性的缺陷检测算法。该算法利用局部二值模式算子的旋转不变性和灰度不变性的特点,并将其与图像的梯度幅值特征进行融合后用于包装的缺陷检测中,提升了缺陷检测算法对光照的鲁棒性。实验结果表明,相比传统梯度幅值缺陷检测算法,该算法具有更好的抗光照影响能力,并且对于不同光照情况下的包装缺陷,该算法的检测准确率可达96.57%。因而,该算法能够被广泛地用于包装缺陷检测中,提高缺陷检测的精度。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 宋丽梅,徐婧玮,杨燕罡,郭庆华,杨怀栋
关键词: 缺陷检测,梯度幅值,局部二值模式,图像质量评价
来源: 应用光学 2019年04期
年度: 2019
分类: 基础科学,工程科技Ⅱ辑,信息科技
专业: 工业通用技术及设备,计算机软件及计算机应用
单位: 天津工业大学电气工程与自动化学院天津市电工电能新技术重点实验室,天津职业技术师范大学机械工程学院,伍伦贡大学电气计算机和通信工程学院,清华大学机械工程学院精密仪器系
基金: 国家自然科学基金(61078041,51806150),天津市应用基础及前沿计划(16JCYBJC15400,15JCYBJC51700,18JCQNJC04400),天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室开放基金(PIL1603),天津市企业科技特派员项目(18JCTPJC61700),天津市高等学校创新团队培养计划(TD13-5036)
分类号: TP391.41;TB487
页码: 644-651
总页数: 8
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