旋涂法涂制溶胶凝胶改性SiO2减反膜性能研究

旋涂法涂制溶胶凝胶改性SiO2减反膜性能研究

论文摘要

运用溶胶改性和溶剂置换的方法制备以癸烷为溶剂的SiO2溶胶,通过单面旋涂方法在方形50 mm×50mm×10mm的KDP晶体基片上制备均匀性良好的膜层。使用分光光度计测试涂膜的晶体基片,涂制三倍频及基频二倍频减反膜的KDP晶体基片在378nm和835nm处的透过率峰值均大于99.5%,膜层减反射效果良好。结合过滤技术及超声波清洗技术实现了膜层制备过程中的缺陷控制,将经过缺陷控制的三倍频减反膜涂制在洁净度高的熔石英陪涂片上,并在测试前进行激光(波长为355nm,脉宽为3ns)预处理,得到的三倍频减反膜的抗激光损伤阈值为(14.0±2.1)J·cm-2。

论文目录

  • 1 引言
  • 2 实验
  • 3 结果与讨论
  •   3.1 膜层缺陷控制
  •   3.2 膜层均匀性
  •   3.3 膜层性能
  •     3.3.1 膜层透过率
  •     3.3.2 膜层抗激光损伤性能
  • 4 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 沈斌,李海元,张旭

    关键词: 材料,溶胶凝胶,二氧化硅,旋涂法,方形基片,缺陷控制

    来源: 激光与光电子学进展 2019年14期

    年度: 2019

    分类: 信息科技,工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑

    专业: 无机化工,材料科学,工业通用技术及设备

    单位: 中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理重点实验室

    分类号: TB383.2;TQ127.2

    页码: 228-233

    总页数: 6

    文件大小: 3118K

    下载量: 254

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