自相似谱测度的谱特征值问题

自相似谱测度的谱特征值问题

论文摘要

设μ为Rd上具有紧支撑的Borel概率测度.如果存在由复指数函数族E(∧):= {e-2πi<λ,x>:λ ∈A}构成L2(μ)的规范正交基,则称μ为谱测度.此时,称对应集∧为μ的谱.本学位论文,我们考虑的对象是自相似谱测度.设g>1,D(?)Z是一个有限集.则由Hutchinson定理,存在唯一的Borel概率测度(称为自相似测度)满足μq.D(E)=1/#D(?)μq.D(qE-d),(?)Borel集 E.本学位论文分为两部分.第一部分研究含三个元素数字集的自相似测度μq.{O,ar,br},其中r= q/3.付延松等[53]刻画了它为谱测度的充要条件.我们研究该谱测度的谱结构,得到了简单的树结构表示,并得到了从最大正交族到正交基的一个充分条件,该充分条件包含了几乎所有已知的充分条件(只需要做相应的轻微修改).作为应用,我们解决了上述谱测度关于典型谱A的谱特征值问题,即找出所有的实数t,使得tA也是μq,{o,ar,br}的谱.值得指出的是通过适当的修正,我们的结果也适用于μ4,{0,2}或更一般的自相似谱测度.该部分内容与(作者和合作者)已发表在J.Funct.Anal.杂志上的结果是作者后续研究的基础.本学位论文的第二部分研究含连续型元素数字集的自相似谱测度μq,{0,r...,(b-1)r},其中r= q/b ∈ Z.我们已经知道对任意w=w1w2…∈{-1,1}∞,集合Aw.=(?){0,1,...,b-1}wkqk-1都是μq,{0,r,…,(b-1)r}的谱.称∧w为μq,{0,r,...,(b-1)r}的典型随机谱.文献[51]中提出了关于典型随机谱的公共特征值问题,即对什么样的数t使得对所有的w=w1w2…∈{-1,1}∞,t∧w比都是μq,{0,r,...,(b-1)r}的谱.我们部分地回答了该开问题并给出了一类公共谱特征值.

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 第一章 绪论
  •   1.1 研究问题与研究背景
  •   1.2 主要工作与论文安排
  • 第二章 预备知识
  •   2.1 自相似测度
  •   2.2 谱测度和谱
  •   2.3 测度的卷积和弱收敛及主要工具
  •   2.4 谱特征值问题
  • 第三章 自相似测度的极大正交集和谱结构
  • q,a,b的极大正交集的刻画'>  3.1 μq,a,b的极大正交集的刻画
  • q,a,b的谱结构'>  3.2 μq,a,b的谱结构
  • 第四章 自相似测度的谱特征值问题
  • 第五章 随机谱特征值问题
  • 第六章 展望
  •   6.1 非齐次自相似测度
  •   6.2 框架谱测度
  •   6.3 Beurling维数与Feichtinger猜想
  •   6.4 收敛性问题
  • 参考文献
  • 致谢
  • 攻读学位期间已发表和待发表论文目录
  • 文章来源

    类型: 博士论文

    作者: 伍智义

    导师: 何兴纲

    关键词: 自相似测度,谱特征值问题,谱结构问题,谱测度

    来源: 华中师范大学

    年度: 2019

    分类: 基础科学

    专业: 数学

    单位: 华中师范大学

    分类号: O174.12

    总页数: 91

    文件大小: 3190K

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