精密测距仪—μ-base在基线检测中的应用
论文摘要
新型-base精密测距仪是一款高精度基线测距仪,它采用了ADM测距原理,在使用角隅棱镜(CCR1.5",RRR1.5")时,其在160m的范围内的测距精度优于10m。受制于-base的测距范围,文章分别采用了"差分法"和"叠加法"对基线进行了多次重复测量,经分析,该方法测量精度较高,满足基线检测的精度要求,为测距仪进行基线检测提供了新的方法和依据。
论文目录
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 肖华杰,邓向瑞,李建双
关键词: 测距仪,基线检测
来源: 信息通信 2019年12期
年度: 2019
分类: 信息科技,基础科学
专业: 自然地理学和测绘学
单位: 中国计量科学研究院
分类号: P204
页码: 30-31
总页数: 2
文件大小: 415K
下载量: 27
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本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/0d027ab607b2df5e2b0481b0.html