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CaCu3Ti3.95Zr0.05O12陶瓷的介电性质研究

论文摘要

CaCu3Ti4O12（CCTO）陶瓷具有高介电常数,研究掺杂离子对其结构和性质的影响有助于理解并优化其介电性能.本文利用X射线衍射仪（XRD）研究了CaCu3Ti3.95Zr0.05O12（CCTZ）陶瓷的结构,并利用宽温宽频介电分析仪研究了其在不同温度下介电常数、弛豫、阻抗和电模量等性质.XRD结果表明,5%的Zr能够完全并入到CCTO晶格中;阻抗谱和电模量的分析表明,低温和高温范围内的介电弛豫分别与晶粒和晶界的电学性质密切相关.Zr掺杂造成晶粒激活能增大,而晶界激活能几乎不变.

论文目录

  • 1 实验部分
  •   1.1 试剂与仪器
  •   1.2 实验过程
  • 2 结果与讨论
  •   2.1 XRD结构分析
  •   2.2 介电常数与弛豫
  •   2.3 阻抗谱分析
  •   2.4 弛豫机制分析
  • 3 结论

    • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 张圣诗,滕达,张磊,刘军伟

    关键词: 介电,阻抗,电模量

    来源: 吉林化工学院学报 2019年03期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅰ辑

    专业: 无机化工

    单位: 吉林化工学院材料科学与工程学院

    基金: 吉林化工学院科学技术研究项目(2017003)

    分类号: TQ174.1

    DOI: 10.16039/j.cnki.cn22-1249.2019.03.017

    页码: 82-87

    总页数: 6

    文件大小: 332K

    下载量: 74

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    本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/1851f42e32940ba0f2664e56.html