多芯片LED光源的可靠性分析涉及到光、电、热多个物理场,高精度的多场分析结果会导致计算资源过多、计算时间过长、计算难度大等问题。为解决上述问题,本文分别利用传统的有限元算法(FEM)和高效的人工神经网络方法(ANN)进行LED光源温度分析,并讨论两种方法的优劣性。最后,通过将FEM分析单一传热物理场的优势与ANN计算时间短、计算资源需求低的优势相结合,归纳出一种更为高效的方法来进行多芯片LED光源的散热分析。利用该方法,ANN的预测数据与训练数据之间的相关系数达到了0.997 79,预测结果与实际热分布图有良好的匹配,计算资源相比传统的FEM方法节约了59%。该方法的应用能够在满足精度的前提下耗费更少的计算资源和时间,同时提高了分析的灵活性。除此之外,该方法对求解大功率LED光源寿命等可靠性问题也具有一定的参考价值。
类型: 期刊论文
作者: 刘宏伟,于丹丹,牛萍娟,张赞允,郭凯,王迪,张建新,郏成奎,王闯,吴超瑜
关键词: 多芯片光源,多场耦合,散热分析,有限元算法,人工神经网络
来源: 发光学报 2019年06期
年度: 2019
分类: 基础科学,工程科技Ⅱ辑,信息科技
专业: 电力工业,自动化技术
单位: 天津工业大学电子与信息工程学院,天津工业大学天津市光电检测与系统重点实验室,飞利浦(中国)投资有限公司,天津三安光电有限公司
基金: 国家自然科学基金(61575144,61504093),天津市科技计划(16YFXTGX00230,18JCYBJC85400),天津市教委科研计划(2017ZD06),天津市高等学校创新团队培养计划(TD13-5035)资助项目~~
分类号: TP183;TM923.34
页码: 795-802
总页数: 8
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本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/28c89b0dfcac1fd47a9d22dd.html