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22K金内部标准样品的研制

论文摘要

X射线荧光光谱分析法因其检测速度快,无须破坏样品等优点,被广泛的应用于各行各业中,同样在贵金属含量分析中占有举足轻重的地位。但是,荧光光谱分析法也有其自身的缺点,为了保证结果的准确性在检测时必须要使用标样来校正标准曲线,并非所有的标样都能在市面上购买,自制标样便是很多实验室解决困扰的途径之一,定值是否准确将是判断标样好坏最重要的参数,本文介绍一系列的方法来探讨标样的定值。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 仪器与试剂材料
  • 2 制备过程
  •   2.1 制备要求
  •   2.2 熔炼过程
  •   2.3 制做标准样片
  • 3 数据分析
  •   3.1 均匀性初检
  •   3.2 均匀性验证
  •   3.3 定值实验
  • 4 经验及讨论

    • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 吴柏杨,罗志高,孟庆保,易琳,邹振宇

    关键词: 射线荧光光谱法,标准样品,定值,均匀性分析

    来源: 中国检验检测 2019年03期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑

    专业: 化学,轻工业手工业

    单位: 深圳市周大福珠宝制造有限公司

    分类号: O657.34;TS934.3

    DOI: 10.16428/j.cnki.cn10-1469/tb.2019.03.005

    页码: 16-18+5

    总页数: 4

    文件大小: 106K

    下载量: 45

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    本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/2f40bc3617d3e812bdf75c62.html