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介电谱用于评估XLPE电缆绝缘劣化状态的研究

论文摘要

电缆绝缘的介电性能与其劣化状态密切相关,本研究采用一种新的介电分析方法通过介电谱评估XLPE电缆绝缘的劣化状态,该方法通过对介电常数实部频谱进行数学变换获得新的谱图。首先在130℃下对XLPE电缆绝缘进行不同时间的加速老化实验,获得不同劣化程度的XLPE试样,然后用新的介电分析方法评估这些试样的劣化状态,并采用傅里叶变换红外光谱(FTIR)表征其化学结构的变化。结果表明:新谱图中损耗峰的峰值频率能够表征电缆绝缘的劣化状态,峰值频率越低,劣化程度越严重。同时,羰基峰的出现表明XLPE的化学结构发生了变化,损耗峰峰值频率的变化与此相关。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 一种新的介电分析方法
  • 2 实验
  •   2.1 试样制备及老化
  •   2.2 介电谱测试
  •   2.3 FTIR测试
  • 3 结果及讨论
  •   3.1 传统介电谱的结果分析
  •   3.2 新的介电分析方法的介电谱结果
  • 4 结论

    • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 周利军,王媚,周韫捷,蒋晓娟,杨天宇,张媛媛

    关键词: 介电谱,劣化状态评估

    来源: 绝缘材料 2019年01期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑

    专业: 电力工业

    单位: 国网上海市电力公司,西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室

    分类号: TM247

    DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2019.01.010

    页码: 52-56

    总页数: 5

    文件大小: 2206K

    下载量: 288

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    本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/43508b8223dbf1b0e3f62c71.html